Spektrometry XRF
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej (XRF) szybko i bez niszczenia próbki określa jej skład pierwiastkowy — od powłok galwanicznych i olejów po stopy metali. W ofercie EnviSense znajdziesz ręczne i mobilne analizatory XRF do pracy w terenie, laboratoryjne spektrometry EDXRF, specjalizowane analizatory grubości powłok galwanicznych, siarki w olejach i paliwach oraz złota, a także prasy i młynki do przygotowania próbek. Pod listą modeli wyjaśniamy, jak działa metoda, gdzie się ją stosuje, jak dobrać aparat i od czego zależy cena.
Spektrometry XRF — dostępne modele
Przenośny spektrometr XRF Explorer
Ręczny spektrometr XRF Explorer najnowszej generacji do analiz laboratoryjnych i terenowych — z detektorem SDD, kamerą HD i oprogramowaniem z krzywymi wzorcowymi oraz analizą bezwzorcową (FP). Jedna platforma w czterech kalibracjach — RoHS i pierwiastki szkodliwe (3000), stopy i PMI (5000), rudy i geologia (7000) oraz metale ciężkie w glebie (9000). Bateria 9000 mAh na 12 h pracy.
- Ręczny XRF do analiz terenowych i laboratoryjnych
- Detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości, kamera HD
- Cztery warianty — RoHS 3000, stopy 5000, rudy 7000, gleba 9000
- Analiza pierwiastków lekkich bez helu i próżni
Spektrometr XRF EDX 6000C
Zaawansowany laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDX 6000C, oferujący pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu. Poszerzony zakres pierwiastkowy (F–U) i obniżone limity detekcji dzięki ultra cienkiemu okienku grafenowemu w detektorze. Cztery konfiguracje komory pomiarowej.
- Pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu
- Poszerzony zakres pierwiastkowy od fluoru do uranu
- Ultra cienkie okienko grafenowe w detektorze
- Obniżone limity detekcji dla pierwiastków lekkich
Spektrometr XRF EDX 1800B
Analizator fluorescencji rentgenowskiej EDX 1800B zaprojektowany do szybkich, nieniszczących analiz zgodności z dyrektywą RoHS/WEEE. Funkcja PASS/FAIL dla pierwiastków niebezpiecznych (rtęć, kadm, ołów, chrom), intuicyjne polskie oprogramowanie oraz opcjonalne rozszerzenie o chlor i wersja z detektorem SDD.
- Analizy zgodności z RoHS/WEEE, funkcja PASS/FAIL
- Wykrywanie rtęci, kadmu, ołowiu i chromu
- Szybkie, w pełni nieniszczące pomiary XRF
- Kontrola wyrobów elektrycznych, zabawek, ceramiki
Spektrometr XRF EDX 2000A
Spektrometr XRF EDX 2000A z górnym źródłem promieniowania i ruchomym stolikiem, zaprojektowany do pomiaru grubości i składu powłok galwanicznych. Podwójny system pozycjonowania próbki i szeroki wybór kolimatorów umożliwiają precyzyjne pomiary małych i nieregularnych elementów. Zakres pierwiastkowy od glinu do uranu.
- Górne źródło promieniowania i ruchomy stolik
- Pomiar grubości i składu powłok galwanicznych
- Podwójny system pozycjonowania próbki
- Szeroki wybór kolimatorów do małych elementów
Spektrometr XRF EDX3300S PLUS
EDX3300S PLUS służy do oznaczania siarki, chloru, fosforu i krzemu w paliwach, olejach oraz innych próbkach. Układ monochromatyczny i boczna geometria pomiaru wspierają kontrolę produktów petrochemicznych w laboratoriach stacjonarnych i mobilnych.
- Oznaczanie siarki, chloru, fosforu i krzemu (S, Cl, P, Si)
- Monochromatyczna fluorescencja rentgenowska z boczną geometrią pomiaru
- Próbki ciekłe, stałe i sproszkowane — dobór metody do matrycy
- Czas pomiaru 60–300 s
Spektrometr XRF EDX3000 PLUS
Topowy analizator metali szlachetnych z wysokorozdzielczym detektorem SDD — rozdziela złożone stopy (białe złoto, Ag+Sn, Pt+Au, Au+W), mierzy zanieczyszczenia przy rafinacji i recyklingu oraz analizuje katalizatory i próbki o nieznanym składzie.
- Nowoczesny detektor SDD o wysokiej rozdzielczości
- Rozdział złożonych stopów — białe złoto, Ag+Sn, Pt+Au, Au+W
- Pomiar zanieczyszczeń przy rafinacji i recyklingu metali
- Analiza katalizatorów i próbek o nieznanym składzie
Spektrometr XRF EDX 3200S
Analizator XRF EDX 3200S do oznaczania siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych, zaprojektowany zgodnie z ASTM D7039. Komora próżniowa zamiast płuczki helowej ogranicza koszty eksploatacji, a wbudowany monitor dotykowy z oprogramowaniem eliminuje potrzebę komputera zewnętrznego. Nadaje się do laboratoriów mobilnych.
- Oznaczanie siarki w glebach, olejach i petrochemii
- Zgodność z normą ASTM D7039
- Komora próżniowa zamiast płuczki helowej
- Niższe koszty eksploatacji i wygodniejsza praca
Spektrometr XRF Cube100
Przenośny analizator złota XRF o wadze zaledwie 4,5 kg — pełna analiza stopów metali szlachetnych (Au, Ag, Pt, Pd) w 5–90 s na ekranie dotykowym, bez komputera. Detektor Si-PIN lub SDD, zakres od 1 ppm do 99,99%.
- Waga 4,5 kg i uchwyt transportowy — praca w sklepie, lombardzie i w terenie
- Sterowanie z dużego ekranu dotykowego, bez zewnętrznego komputera
- Dwie wersje detektora do wyboru — Si-PIN lub SDD
- Zakres pomiarowy od 1 ppm do 99,99%, wynik w 5–90 sekund
Spektrometr XRF EDX3000
Precyzyjny spektrometr XRF z chłodzonym elektrycznie detektorem Si-PIN i kamerą pomiaru punktowego — rozdzieli białe złoto, zmierzy grubość powłok galwanicznych i sprawdzi zgodność z RoHS. Własne wzorce i krzywe kalibracyjne.
- Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN o podwyższonej rozdzielczości
- Wbudowana kamera — precyzyjny pomiar punktowy pierścionków i łańcuszków
- Rozdział trudnych stopów, m.in. białego złota
- Pomiar grubości powłok i badania zgodności z RoHS
Przenośny spektrometr MWD-XRF EDX3300S
Przenośny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją fali (MWD-XRF) EDX3300S, zaprojektowany do kontroli zawartości siarki w paliwach zgodnie z ASTM D7039. Technologia monochromatycznej dyspersji fali umożliwia osiąganie niskich granic wykrywalności siarki. Niewielkie wymiary do pracy w terenie i laboratorium mobilnym.
- Technologia MWD-XRF (monochromatyczna dyspersja fali)
- Niskie granice wykrywalności siarki
- Kontrola siarki w benzynie i oleju napędowym
- Zgodność z normą ASTM D7039
Spektrometr XRF EDX3600H
Profesjonalny laboratoryjny spektrometr EDXRF EDX3600H do pełnych analiz pierwiastkowych, szczególnie polecany do próbek mineralnych i stopów metali. Technika rozdziału widma (wieloetapowy pomiar z różnymi parametrami) zwiększa dokładność równoczesnej analizy pierwiastków ciężkich i lekkich. Polskie oprogramowanie i szkolenie.
- Analizy próbek mineralnych i stopów metali
- Technika rozdziału widma — wieloetapowy pomiar XRF
- Większa dokładność analizy pierwiastków ciężkich i lekkich
- Pełne analizy pierwiastkowe w jednym przyrządzie
Spektrometr XRF EDX3600K
Zaawansowany stacjonarny spektrometr EDXRF EDX3600K do zastosowań laboratoryjnych, z detektorem SDD i powiększonym okienkiem berylowym rozszerzającym zakres od fluoru (F9). Zaprojektowany do analiz materiałów proszkowych — metalurgii proszków, przemysłu cementowego, hutnictwa i wydobycia. Dobra wykrywalność pierwiastków lekkich.
- Detektor SDD z powiększonym okienkiem berylowym
- Zakres pomiarowy rozszerzony od fluoru (F9)
- Lepsza analiza pierwiastków lekkich — Si, Al, S
- Do materiałów proszkowych i metalurgii proszków
Spektrometr XRF EDX600
Sprawdzony spektrometr XRF do codziennych analiz stopów złota i srebra — licznik proporcjonalny, potrójne zabezpieczenie przed promieniowaniem i pomiar grubości pojedynczych powłok metalicznych przy niskich kosztach eksploatacji.
- Dokładne analizy typowych stopów Au i Ag przy niskich kosztach eksploatacji
- Dodatkowo pomiar grubości jednowarstwowych powłok metalicznych
- Potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym
- Przyjazny interfejs i profesjonalne oprogramowanie analityczne
Ręczna prasa do tabletek XRF PC-15BS
Dwukolumnowa ręczna prasa do tabletek PC-15BS z manometrem, zaprojektowana do przygotowywania próbek do analizy XRF. Łączy prostą obsługę z precyzją i stabilnością nacisku, dając jednorodne i trwałe pastylki. Możliwość stosowania różnych matryc w zależności od aplikacji.
- Dwukolumnowa konstrukcja — stabilna, równomierna siła nacisku
- Ręczne sterowanie do prac laboratoryjnych
- Manometr do dokładnej kontroli ciśnienia
- Jednorodne, trwałe pastylki do analiz XRF
Półautomatyczna prasa XRF EQP-110
EQP-110 to prasa półautomatyczna do seryjnego wytwarzania jednakowych pastylek pod pomiary XRF i LIBS. Pięć nastaw prasowania — w cyklu pojedynczym lub podwójnym ze zmiennym ciśnieniem — daje płaskie, gładkie krążki bez pęknięć i pyłu. Trwała rama, prosta obsługa, niezawodna praca.
- Jednakowe pastylki pod pomiary XRF i LIBS
- Pięć nastaw prasowania do wyboru
- Cykl pojedynczy lub podwójny ze zmiennym ciśnieniem
- Płaskie, gładkie krążki bez pęknięć i pyłu
Ręczna prasa hydrauliczna EQP-30
EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna generująca nacisk sięgający 30 ton, dobrana do pastylek 40 mm. Układ hydrauliczny wielokrotnie wzmacnia siłę ręki operatora, a wbudowane zabezpieczenie samoczynnie spuszcza ciśnienie tuż przed granicą 30 ton. Przygotowuje próbki pod techniki XRF i FTIR.
- Nacisk sięgający 30 ton, pastylki 40 mm
- Układ hydrauliczny wzmacnia siłę ręki operatora
- Samoczynny upust ciśnienia przy granicy nacisku
- Masywna, wytrzymała rama
Miksujący młynek kulowy EQM-402
EQM-402 przygotowuje próbki do spektrometrii XRF — rozdrabnia wsad o różnej twardości (do 50 ml), a potem wmiesza w niego lepiszcze. Dwie komory pracujące równolegle sprowadzają ziarno poniżej 10 µm w 1–4 minuty. Sterowanie z ekranu dotykowego i 5 zapisywanych programów roboczych.
- Rozdrabnianie i wmieszanie lepiszcza przed analizą XRF
- Wsad o różnej twardości — od kruchego po półtwardy, do 50 ml
- Dwie komory mielące pracujące jednocześnie
- Redukcja ziarna do poniżej 10 µm w 1–4 minuty
Mobilny spektrometr XRF S-Mobile
Kompaktowy mobilny spektrometr XRF S-Mobile z lampą rentgenowską o mocy 50 kV / 50 W, zapewniający analizy na poziomie laboratoryjnym w terenie. Wersja ULS do analiz siarki na poziomie pojedynczych ppm (limit detekcji 1,3 ppm) zgodna z ASTM D4294 i ISO 20847 oraz wersja Petro-Marine na statki.
- Lampa X-ray 50 kV / 50 W — analizy laboratoryjne w terenie
- Rozbudowana analiza bezwzorcowa (SLFP)
- Wersja ULS — siarka na poziomie ppm, limit 1,3 ppm
- Zgodność z ASTM D4294, D7212, ISO 20847, IP 531
Mobilny spektrometr XRF P-Metrix
Mobilny spektrometr EDXRF P-Metrix łączący moc analityczną urządzenia stacjonarnego z zaletami przyrządu przenośnego. Automatyczna pokrywa, detekcja obecności próbki, kamera podglądowa i zabezpieczenia elektroniczne. Zasilanie z baterii Li-ion, składana konstrukcja i możliwość połączenia ze stacjonarnym laboratorium.
- Moc analityczna urządzenia stacjonarnego w wersji mobilnej
- Automatyczna pokrywa i detekcja obecności próbki
- Kamera podglądowa i zabezpieczenia elektroniczne
- Solidna, składana konstrukcja do transportu
Spektrometr XRF Genius-IF
Biurkowy spektrometr EDXRF Genius-IF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, łączący wysoką jakość pomiarów z ekonomią analizy pierwiastkowej. Nieniszcząca analiza od węgla (C6) do fermu (Fm100), detektor SDD o doskonałej rozdzielczości i opatentowany układ WAG obniżający limity detekcji.
- Wtórne filtry odbiciowe dla optymalnego wzbudzenia
- Zakres analizy od węgla (C6) do fermu (Fm100)
- Detektor SDD o doskonałej rozdzielczości widmowej
- Opatentowany układ WAG (Wide Angle Geometry)
Spektrometr XRF X-Calibur
Laboratoryjny spektrometr EDXRF X-Calibur o dużej mocy lampy rentgenowskiej i zwartej budowie, zapewniający wysoką wydajność pomiarów i dużą rozdzielczość detektora. Unikalna geometria lampy „close couple" skraca odległość próbka–lampa–detektor. Oprogramowanie z analizą bezwzorcową Fundamental Parameters.
- Duża moc lampy rentgenowskiej, zwarta budowa
- Geometria lampy „close couple" z anodą z przodu
- Wysoka wydajność i duża rozdzielczość detektora
- Analiza jakościowa, ilościowa i półilościowa
Jak działa spektrometr XRF
Spektrometr XRF naświetla próbkę promieniowaniem rentgenowskim. Wzbudzone atomy emitują promieniowanie fluorescencyjne o energii charakterystycznej dla danego pierwiastka: położenie linii w widmie wskazuje pierwiastek, a jej natężenie — jego stężenie. Pomiar trwa od około sekundy do kilku minut i nie niszczy próbki, dlatego XRF sprawdza się w kontroli wyrobów, sortowaniu materiałów i badaniach w terenie.
Wynik dotyczy warstwy przypowierzchniowej. Przy jednorodnym metalu to zaleta — mierzy się bezpośrednio na elemencie. Przy proszkach, rudach czy glebie o jakości wyniku w dużej mierze decyduje przygotowanie próbki.
Rodzaje spektrometrów XRF
- Ręczne — analizator trzymany w dłoni do pomiarów na miejscu: identyfikacji stopów i kontroli PMI (weryfikacji gatunku materiału), sortowania złomu, geologii i badania gleby. Przykładem jest Explorer w wariantach przeznaczonych do analizy stopów, RoHS, rud i metali ciężkich w glebie. Zobacz przenośne spektrometry XRF.
- Mobilne — przenośne aparaty z zamkniętą komorą pomiarową, zbliżone możliwościami do urządzeń stacjonarnych: P-Metrix oraz S-Mobile — ten drugi także w wersji ULS do oznaczania siarki.
- Laboratoryjne (biurkowe) — analiza pierwiastkowa stopów, minerałów i proszków z większą powtarzalnością. Modele z pomiarem w próżni lub helu, np. EDX 6000C, poszerzają zakres o pierwiastki lekkie. Zobacz laboratoryjne spektrometry XRF.
- Analizatory specjalizowane — skonfigurowane pod konkretne zadanie: analizatory grubości powłok galwanicznych, analizatory siarki w olejach i paliwach oraz analizatory złota.
Większość modeli w ofercie to spektrometry z dyspersją energii (EDXRF), które mierzą wiele pierwiastków jednocześnie i mają zwartą budowę. Do oznaczania siarki w paliwach stosuje się także technikę monochromatycznej dyspersji fali (MWD-XRF), wykorzystywaną w przenośnym EDX3300S.
Zastosowania spektrometrów XRF
Ten sam pomiar fluorescencji rentgenowskiej jest wykorzystywany w bardzo różnych branżach. Różnią się wymagana czułość, rodzaj próbki i kalibracje — poniżej zebraliśmy najczęstsze zadania i modele, od których warto zacząć.
Grubość powłok galwanicznych
XRF bez uszkadzania detalu mierzy grubość i skład powłok pojedynczych oraz wielowarstwowych, np. w galwanizerniach i kontroli dostaw. EDX 2000A ma górne źródło promieniowania i ruchomy stolik do precyzyjnego ustawienia elementu, a EDX3000 łączy pomiar powłok z analizą stopów złota i kontrolą RoHS. Zobacz analizatory grubości powłok.
Siarka w olejach i paliwach
Analizatory XRF kontrolują zawartość siarki w paliwach, olejach i produktach petrochemicznych, a wybrane modele, np. EDX3300S PLUS, oznaczają także chlor, fosfor i krzem. EDX 3200S pracuje z komorą próżniową zamiast płuczki helowej, przenośny EDX3300S wykorzystuje technikę MWD-XRF, a S-Mobile w wersji ULS oznacza siarkę na poziomie pojedynczych ppm. Zobacz analizatory siarki.
Stopy metali i złom (PMI)
Spektrometr XRF do metali identyfikuje gatunek stopu w kilka sekund — przy sortowaniu złomu, przyjęciu materiału i weryfikacji PMI. W terenie sprawdza się ręczny Explorer 5000 z biblioteką ponad 500 gatunków stopów, w laboratorium m.in. EDX3600H.
Analiza RoHS
Metoda XRF pozwala przesiewowo sprawdzić ołów, rtęć, kadm oraz chrom całkowity i brom całkowity w podzespołach, tworzywach, zabawkach i ceramice. Brom całkowity wskazuje na możliwe bromowane uniepalniacze (PBB, PBDE), ale ich nie identyfikuje; ftalanów XRF nie oznacza. EDX 1800B daje ocenę PASS/FAIL dla rtęci, kadmu, ołowiu i chromu, a ręczny Explorer 3000 mierzy duże elementy wprost na powierzchni. Więcej o kontroli RoHS w serwisie Skyray.
Opakowania i PPWR
Suma stężeń ołowiu, kadmu, rtęci i chromu sześciowartościowego w opakowaniu nie może przekraczać 100 mg/kg — to limit z dyrektywy 94/62/WE, utrzymany w rozporządzeniu PPWR (UE) 2025/40. XRF służy do szybkiego badania przesiewowego; mierzy chrom całkowity, więc wynik zbliżony do limitu warto potwierdzić metodą oznaczającą chrom(VI). Do kontroli opakowań przeznaczony jest m.in. ręczny Explorer 3000. Zobacz też badanie opakowań na skyray.pl.
Katalizatory i recykling
Przy rafinacji i recyklingu liczy się szybka ocena składu i zanieczyszczeń. EDX3000 PLUS z detektorem SDD analizuje katalizatory i próbki o nieznanym składzie, a Explorer jest dostępny także w wersji z kalibracją do katalizatorów.
Geologia i górnictwo
Rudy, skały, kruszywa i surowce mineralne: w terenie ręczny Explorer 7000 z GPS do mapowania złoża, w laboratorium m.in. EDX3600K do materiałów proszkowych, cementu i hutnictwa oraz EDX 6000C z pomiarem w próżni lub helu. Próbki proszkowe przygotujesz młynkiem i prasą.
Metale ciężkie w glebie
Explorer 9000 oznacza in situ m.in. rtęć, kadm, ołów, arsen, miedź, cynk i nikiel — przy rozpoznaniu zanieczyszczeń i rekultywacji terenu, z zapisem położenia GPS. Siarkę w glebie oznacza także EDX 3200S.
Metale szlachetne
Skład stopów złota, srebra, platyny i palladu bez uszkadzania wyrobu — od codziennej kontroli stopów po analizatory do rafinacji. Cube100 waży 4,5 kg i działa bez komputera, EDX600 służy do rutynowych analiz złota i srebra, a EDX3000 PLUS rozdziela złożone stopy. Zobacz analizatory złota.
Jak dobrać spektrometr XRF
- Jaki materiał badasz? Lity metal mierzy się bezpośrednio. Proszki, rudy i gleby wymagają przygotowania próbki, a paliwa i oleje — aparatu skonfigurowanego do cieczy.
- Które pierwiastki i w jakich stężeniach? Składniki główne stopów oznaczy każdy uniwersalny spektrometr XRF — ręczny, mobilny lub laboratoryjny. Niskie stężenia i pierwiastki lekkie wymagają czułego detektora SDD, a w laboratorium często także pomiaru w próżni lub helu.
- Teren czy laboratorium? Ręczny lub mobilny analizator przenosi pomiar do próbki. Spektrometr biurkowy zapewnia stabilne warunki, większą powtarzalność i wygodną pracę z seriami próbek.
- Jak będziesz raportować wyniki? Do rutynowej kontroli tych samych materiałów służą krzywe wzorcowe, a do próbek o zmiennym składzie — analiza bezwzorcowa (FP). Warto od razu określić potrzebne kalibracje.
- Czego XRF nie zmierzy? Ręczny analizator XRF nie oznaczy węgla w stali — do stali węglowych i niskostopowych stosuje się spektrometry iskrowe. Śladowe ilości pierwiastków w roztworach oznacza się spektrometrami ICP.
Masz nietypową próbkę albo kilka zadań pomiarowych naraz? Opisz je — dobierzemy spektrometr XRF i kalibrację.
Przygotowanie próbek do analizy XRF
Powtarzalny wynik dla proszków, rud, cementu czy gleby zależy od jednorodności próbki. Młynek kulowy EQM-402 rozdrabnia materiał i miesza go z lepiszczem, a prasy — od ręcznych po półautomatyczną EQP-110 — formują gładkie, jednakowe pastylki. Pełną listę znajdziesz w kategorii akcesoria XRF.
Ile kosztuje spektrometr XRF
Cena spektrometru XRF zależy od konfiguracji, a nie tylko od modelu. Największy wpływ mają: typ aparatu (ręczny, mobilny lub laboratoryjny), detektor (SDD, Si-PIN lub licznik proporcjonalny), zakres pierwiastków i atmosfera pomiaru (powietrze, próżnia, hel), pakiety kalibracji dla Twoich materiałów oraz akcesoria do przygotowania próbek. Przygotujemy wycenę dla konkretnego zastosowania — zapytaj o dobór i ofertę.
Bezpieczeństwo i formalności
Spektrometry XRF zawierają lampę rentgenowską, dlatego ich użytkowanie podlega przepisom prawa atomowego. Zakres wymagań zależy od typu urządzenia i sposobu pracy — zapytaj, co dotyczy wybranego modelu. Komunikat dotyczący uruchamiania urządzeń wytwarzających promieniowanie jonizujące znajdziesz w dokumencie Ochrona radiologiczna.