Mikroskop metalograficzny XJM600

Zaawansowane mikroskopy metalograficzne serii XJM600 wykorzystujące światło odbite i przepuszczane to kompleksowo wyposażone modele dolnostolikowe z licznymi aplikacjami takimi jak np. metoda jasnego i ciemnego pola, DIC (kontrast interferencyjny), obserwacje w polaryzacji, itp. Mikroskopy serii XJM600 są produkowane z myślą o przemysle półprzewodników, wytwarzania płytek półprzewodnikowych, elektronicznej branży informatycznej, metalurgii itd. Seria XJM600 jest przeznaczona do badań wykorzystywanych przy FPD (systemy litograficzne płaskie), hermetyzacji obwodu, podłożach obwodu, odlewaniu materiału, metalu i części ceramicznych, formach precyzyjnych, itp.
Ergonomiczna konstrukcja sprawia, że praca z mikroskopem serii XJM600 jest dla użytkownika wygodna. Do przechwytywania obrazu może być wykorzystywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, które stanowią dodatkowe wyposażenie mikroskopu, dostępne jest także przyjazne użytkownikowi oprogramowanie pozwalające na analizę otrzymanego obrazu. W serii XJM600 posiadamy dwa modele: XJM600B i XJM600T, w wersji dwuokularowej i trinokularowej. Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową, a także filtry zapewniają wysoką rozdzielczość i dobrą jakość oglądanych obrazów.

Dodatkowe informacje

Specyfikacja techniczna:

 

Model XJM600B XJM600T
System optyczny System optyczny z korekcją na nieskończoność F=200mm
Głowica Binokularna Trinokularowa
Okular WF10X/25mm, WF10X/20mm z podziałką
Obiektywy obiektywy planachromatyczne:
BD5X/0.1 WD=29.40mm;
BD10X/0.25 WD=16.00mm;
BD20X/0.40 WD=10.60mm;
BD40X/0.60 WD=5.40mm
Stolik 189×160mm
Zakres ruchu: 80×50mm
Rewolwer Czterogniazdowy, z DIC
Kondensor Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową i filtrami
Dodatkowe akcesoria Polaryzator, analizator