Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich. 

  • Click to enlarge image EDX3000.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_comp.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_open.jpg
  • Click to enlarge image gold_silver.jpg
  •  

Dodatkowe informacje

Model: EDX3000
Zastosowania modelu XRF: Jubilerstwo, RoHS, Badanie powłok
Zakres pomiarowy: 1 ppm - 99,99%
Detektor: Si-PIN
Rozdzielczość detektora: 155 ± 5eV
Mierzone pierwiastki: Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Sn, W
Dokładność pomiaru: 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%) ; 0,1%
Atmosfera pomiaru: Powietrze
Czas analizay (s): 60-200
Moc lampy: 50W
Zasilanie: 230V AC
Formy próbek: ciała stałe, proszki, ciecze
Waga: 30kg
Wymiary komory pomiarowej: 310x300x100mm
Dodatkowe informacje: Konfiguracja standardowa zawiera: jednostkę główną z detektorem Si-PIN ze wzmacniaczem, wbudowaną kamerę CCD, oprogramowanie analityczne oraz zestaw komputerowy do sterowania i akwizycji danych.