Spektrometr XRF EDX600

Spektrometr XRF EDX600

Spektrometr XRF EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Spektrometr posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste, szybkie i dokładne.
Spektrometr XRF EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Spektrometr EDX600 polecany jest szczególnie do analiz typowych stopów złota (Au) i srebra (Ag). Spektrometr XRF sprawdzi się też przy pomiarach grubości  jednowarstwowych powłok metalicznych. Spektrometr wykonany jest z trwałych materiałów, posiada potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym.

 

  • Click to enlarge image EDX600.png
  • Click to enlarge image EDX600_close.jpg
  • Click to enlarge image EDX600_open.png
  • Click to enlarge image edx600 komora.jpg
  •  

Dodatkowe informacje

Model: EDX600 XRF
Zastosowania modelu XRF: Jubilerstwo
Zakres pomiarowy: od 0.005-0.01 µm do 50 µm (w zależności od rodzaju powłoki)
Detektor: Licznik proporcjonalny
Mierzone pierwiastki: Standardowo Au, Ag, Pt, Pd, Cu w typowych stopach jubilerskich
Dokładność pomiaru: 5-10% wartości pomiarowej dla powłok galwanicznych
Atmosfera pomiaru: Powietrze
Czas analizay (s): 60-100
Moc lampy: 5-50 kV
Zasilanie: 220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane)
Formy próbek: ciała stałe, proszki, ciecze, powłoki galwaniczne
Waga: 30 kg
Wymiary komory pomiarowej: 260 x 306 x 105 mm
Wymiary całkowite: 150 x 140 x 160 cm