Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich. 

  • Click to enlarge image EDX3000.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_comp.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_open.jpg
  • Click to enlarge image gold_silver.jpg
  •  

Spektrometr XRF X-PMA

Spektrometr XRF X-PMA to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej EDXRF firmy Xenemetrix przeznaczony do analiz biżuterii i stopów metali szlachetnych z dużą precyzją. Wyniki pomiaru spełniają normę GB/T 18043-2000 dotyczącą analizy zawartości metali szlachetnych w wyrobach jubilerskich metodą XRF.

  • Lampa rentgenowska z anodą Mo
  • Analiza jakościowa i ilościowa XRF zawartości poszczególnych pierwiastków w stopach złota, platyny, srebra, rodu i innych metali szlachetnych i bazowych obecnych w biżuterii, monetach i innych materiałach
  • Możliwość jednoczesnego oznaczania wszystkich składników stopu (zaleta metody XRF)
  • Wynik uzyskiwany zaledwie w ciągu kilkudziesięciu sekund (zaleta metody XRF)
  • Posiada wzmocnioną obudowę, dzięki czemu może być wykorzystywany w trudnych warunkach pracy
  • Detektor Si-PIN o rozdzielczości widmowej 155±10 eV zapewniający dobry rozdział widm analizowanych pierwiastków lub detektor SDD o rozdzielczości 123±10 eV
  • Jednopozycyjna komora pomiarowa o wymiarach 220x220x50 mm
  • Kalibracje oparte o wzorce + analiza bezwzorcowa SLFP
  • Analizator złota, srebra, platyny i innych stopów metali szlachetnych


Spektrometr XRF EDX600

Spektrometr XRF EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Spektrometr posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste, szybkie i dokładne.
Spektrometr XRF EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Spektrometr EDX600 polecany jest szczególnie do analiz typowych stopów złota (Au) i srebra (Ag). Spektrometr XRF sprawdzi się też przy pomiarach grubości  jednowarstwowych powłok metalicznych. Spektrometr wykonany jest z trwałych materiałów, posiada potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym.

 

  • Click to enlarge image EDX600.png
  • Click to enlarge image EDX600_close.jpg
  • Click to enlarge image EDX600_open.png
  • Click to enlarge image edx600 komora.jpg
  •  

Spektrometr XRF EDX880

Spektrometr XRF EDX880 to prosty w obsłudze analizator biżuterii i innych wyrobów z metali szlachetnych, działający na zasadzie spektrometru EDXRF. Analizator EDX880 sprawdzi się w pomiarach składu chemicznego typowych stopów jubilerskich oraz przy określaniu karatowości złota. Źródło promieniowania oraz detektor (licznik proporcjonalny) umieszczone w górne części obudowy pozwalają na łatwiejszą manipulację próbką o niejednorodnej lub zakrzywionej powierzchni. Spektrometr XRF EDX880 jest polecany dla jubilerów, skupów złota, lombardów itp. Pomiary za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej (XRF EDX880) są całkowicie nieniszczące, nie ma ryzyka strat lub uszkodzenia próbki badanej.