Spektrometr XRF EDX3200S PLUS

Spektrometr XRF EDX3200S PLUS to zaawansowany laboratoryjny analizator siarki (XRF) specjalnie zaprojektowany do badania ciekłych produktów petrochemicznych, takich jak: benzyna, olej napędowy, ropa naftowa, nafta, oleje smarujące, oleje opałowe i inne. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) charakteryzuje się krótkim czasem analizy, niskimi limitami detekcji oraz brakiem konieczności specjalnego przygotowania próbki. Siarka w paliwach jest składnikiem bardzo niepożądanym, a jej dokładny monitoring na różnych etapach produkcji paliwa może znacząco przyczynić się do polepszenia jakości produktu końcowego.

Spektrometr EDX3200S Plus wyposażony jest w detektor SDD o ulepszonej rozdzielczości. Limit detekcji dla siarki wynosi 10 ppm w atmosferze powietrza i można go obniżyć aż do 3 ppm przy wykorzystaniu atmosfery helu. Analizator siarki XRF EDX3200S PLUS jest polecany producentom paliw płynnych, rafineriom oraz jednostkom kontrolującym jakość paliw. Spektrometr XRF zapewnia pomiary zgodne z ASTM D4294. Dodatkowo można wykonać kalibracje na pomiary chloru w paliwach i innych produktach petrochemicznych.

Spektrometr XRF EDX3200S

Spektrometr XRF EDX3200S to prosty analizator laboratoryjny wykorzystujący metodę XRF do szybkiej i nieniszczącej analizy produktów petrochemicznych pod kątem obecności siarki i innych niepożądanych pierwiastków. Pomiary są proste, dokładne i nie wymagają czynności związanych z przygotowaniem próby. W chwili obecnej staje się ważne określenie zawartości siarki w produktach petrochemicznych, szczególnie w benzynie, oleju napędowym czy smarach. Nadmierna ilość siarki w paliwach reaguje z rozpuszczonym w nich powietrzem i obniża ich stabilność. Ponadto w procesach spalania przekształca się w SO2, które powoduje zanieczyszczenie atmosfery. Z tego względu ważne jest kontrolowanie i ograniczanie jej zawartości. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) świetnie się do tego celu nadaje.

Spektrometr EDX 3200S wyposażony jest w górne źródło promieniowania, które oszczędza zużycie membrany ochronnej, zwiększa dokładność pomiaru i zapobiega zabrudzeniu oraz uszkodzeniu lampy XRF i okienka berylowego detektora. Pokrywa analizatora zapewnia odpowiednią ochronę użytkownika przed promieniowaniem.