Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich. 

  • Click to enlarge image EDX3000.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_comp.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_open.jpg
  • Click to enlarge image gold_silver.jpg
  •  
View the embedded image gallery online at:
http://envisense.eu/tag/edx3000.html#sigFreeIde29b9df796