Spektrometr XRF EDX3000 PLUS

Spektrometr XRF EDX3000 PLUS to najnowszy model spektrometru fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF, przeznaczony specjalnie do dokładnych nieniszczących analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Sprawdzi się także jako uniwersalny analizator składu pierwiastkowego próbek. EDX3000 PLUS posiada nowoczesny wygląd , przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie XRF sprawiające, że analizy pierwiastkowe stają się proste i szybkie.
Dzięki nowoczesnemu detektorowi SDD o ulepszonej rozdzielczości możliwy jest rozdział pierwiastków występujących w stopach oraz i innych próbkach o nieznanym składzie, np. białe złoto (Au+Cu+Zn+Ni), stopy Ag+Sn, stopy Pt+Au, Au+W. EDX3000 PLUS umożliwia pomiar zanieczyszczeń w stopach metali szlachetnych, badanie katalizatorów i inne analizy XR%F. Znakomicie sprawdza się przy rafinacji metali i recyklingu metali. Spektrometry tego typu polecane są do pomiarów stopów jubilerskich w skupach złota, lombardach, kantorach, przy produkcji biżuterii, rafinacji metali i do analiz składu pierwiastkowego rożnych próbek.

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich. 

Spektrometr XRF EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Spektrometr posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste, szybkie i dokładne.
Spektrometr XRF EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Spektrometr EDX600 polecany jest szczególnie do analiz typowych stopów złota (Au) i srebra (Ag). Spektrometr XRF sprawdzi się też przy pomiarach grubości  jednowarstwowych powłok metalicznych. Spektrometr wykonany jest z trwałych materiałów, posiada potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym.

Spektrometr XRF EDX880 to prosty w obsłudze analizator biżuterii i innych wyrobów z metali szlachetnych, działający na zasadzie spektrometru EDXRF. Analizator EDX880 sprawdzi się w pomiarach składu chemicznego typowych stopów jubilerskich oraz przy określaniu karatowości złota. Źródło promieniowania oraz detektor (licznik proporcjonalny) umieszczone w górne części obudowy pozwalają na łatwiejszą manipulację próbką o niejednorodnej lub zakrzywionej powierzchni. Spektrometr XRF EDX880 jest polecany dla jubilerów, skupów złota, lombardów itp. Pomiary za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej (XRF EDX880) są całkowicie nieniszczące, nie ma ryzyka strat lub uszkodzenia próbki badanej.

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do pomiarów półproduktów jak i wyrobów gotowych. EDX1800B znajduje zastosowanie w kontroli jakości wyrobów elektrycznych i elektronicznych, w przemyśle zabawkarskim i ceramicznym. Oprogramowanie XRF posiada wygodną funkcje PASS/FAIL przy wykonywaniu pomiarów na obecność pierwiastków niebezpiecznych jak rtęć, kadm, ołów, chrom. Dodatkowo spektrometr XRF można dostosować do analiz chemicznego składu stopów, wtedy znajdzie zastosowanie również przy recyklingu i sortowaniu metali oraz w przemyśle metalurgicznym. Spektrometr dostarczany z prostym oraz intuicyjnym oprogramowaniem w języku polskim.

Spektrometr dostępny również z rozszerzeniem do pomiaru chloru oraz w wersji z detektorem SDD

Spektrometr XRF EDX6000B to w pełni profesjonalny spektrometr EDXRF do szybkich i nieniszczących analiz składu chemicznego, wyposażony w nowoczesny detektor SDD chłodzony termoelektrycznie. Dzięki wysokiej czułości detektora gwarantuje on wysoki poziom liniowości energii, właściwości spektrum i znakomity stosunek piku do tła. Spektrometr XRF EDX6000B wyposażony jest w standardzie w podajnik na 10 pozycji, który umożliwi szybkie i wygodne testy wielu próbek w jednej partii. Najbardziej polecany jest do analiz XRF próbek mineralnych i stopów metali w przemyśle cementowym, galwanicznym, metalurgii itp. Metoda fluorescencji rentgenowskiej XRF świetnie sprawdza się również w badaniach naukowych, gdzie użytkownik dysponuje jedynie niewielką ilością badanej próbki. Zaletą jest także jednoczesna analiza wszystkich pierwiastków w badanej próbce (w mierzalnym zakresie pierwiastkowym). W przypadku tego modelu analizatora XRF istnieje możliwość wykonania kalibracji na analizy zgodności z RoHS o niskim limitach detekcji dla pierwiastków niebezpiecznych ujętych w dyrektywie.

Spektrometr XRF EDX3600H to laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF przeznaczony do analiz pierwiastkowych XRF w pełnym zakresie pierwiastkowym. Zaletą tego laboratoryjnego analizatora XRF jest detektor SDD o rozdzielczości 135-145eV chłodzony termoelektrycznie oraz możliwość pracy z w atmosferze próżni (do analiz XRF pierwiastków lekkich). Analizator XRF posiada dużą, otwieraną od góry komorę pomiarową. Istnieje możliwość wykonywania pomiarów XRF przy otwartej komorze, umieszczając próbki o dużych lub niestandardowych rozmiarach. Spektrometr XRF EDX3600H jest szczególnie polecany do analiz próbek mineralnych oraz stopów metali. Technika rozdziału widma XRF (wieloetapowy pomiar XRF z różnymi parametrami) zwiększa dokładność równoczesnej analizy ciężkich i lekkich pierwiastków. Zapewniamy profesjonalne szkolenie oraz oprogramowanie XRF w języku polskim.

Spektrometr XRF X-Calibur to spektrometr fluorescencji rentgenowskiej EDXRF firmy Xenemetrix o dużej mocy lampy rentgenowskiej i zwartej budowej. Analizator zapewnia wysoką wydajność pomiarów i dużą rozdzielczość detektora. Unikalna geometria lampy typu "close couple" z anodą umieszczoną z przodu, w połączeniu z zaawansowaną budową układu optycznego maksymalnie skraca odległość między próbką, lampą i detektorem. Zwiększa to dokładność i wydajność prowadzonych pomiarów. Oprogramowanie  nEXt™, na którym pracują wszystkie spektrometry firmy Xenemetrix umożliwia pełną analizę próbek: jakościową, ilościową i półilościową. Dodatkowo urządzenia wyposażone są w oprogramowanie Fundamental Parameters w wersji podstawowej lub zaawansowanej umożliwiające bezwzorcowe analizy nawet nieznanych matryc.
Spektrometr ten może być szeroko stosowany w takich dziedzinach jak: przemysł petrochemiczny, przemysł chemiczny, przemysł polimerów, medycyna sądowa, hutnictwo, analiza powłok, przemysł wydobywczy, badania środowiskowe, badania naukowe itd.

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź: www.learnxrf.com

Spektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w zakresie od C(6) do Fm(100). Najnowszej generacji detektor SDD posiada doskonałą rozdzielczość widmową i zoptymalizowany jest do wykrywania pierwiastków w szerokim zakresie (od ilości śladowych do 100%). XRF Genius-IF firmy Xenemetrix sprawdza się także znakomicie w kłopotliwych dotychczas typach analiz XRF np. pierwiastków lekkich.

Spektrometr XRF Genius IF posiada unikatowy układ optyczny łączący osiem wtórnych filtrów odbiciowych, oraz osiem filtrów w trybie wzbudzenia bezpośredniego. Zapewnia to optymalne warunki wzbudzenia dla wszystkich pierwiastków wykrywanych metodą EDXRF. WAG (Wide Angle Geometry) to opatentowany przez Xenemetrix system wykorzystania filtrów odbiciowych zapewniający optymalne warunki analizy XRF dla pierwiastków głównych oraz śladowych w próbie.
Wiązka rentgenowska wzbudza charakterystyczne linie K dla filtrów odbiciowych (czysty metal), które wykorzystywane są potem do wzbudzenia próbki wiązką "monochromatyczną". Zastosowanie filtrów umożliwia znaczące obniżenie limitów detekcji dla poszczególnych pierwiastków. Niskie limity detekcji pierwiastków czynią Genius-IF najbardziej wszechstronnym i przydatnym w szerokim zakresie aplikacji spektrometrem XRF.

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź: www.learnxrf.com