Spektrometr XRF EDX1800B

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do pomiarów półproduktów jak i wyrobów gotowych. EDX1800B znajduje zastosowanie w kontroli jakości wyrobów elektrycznych i elektronicznych, w przemyśle zabawkarskim i ceramicznym. Oprogramowanie XRF posiada wygodną funkcje PASS/FAIL przy wykonywaniu pomiarów na obecność pierwiastków niebezpiecznych jak rtęć, kadm, ołów, chrom. Dodatkowo spektrometr XRF można dostosować do analiz chemicznego składu stopów, wtedy znajdzie zastosowanie również przy recyklingu i sortowaniu metali oraz w przemyśle metalurgicznym.

  • Click to enlarge image EDX1800B.jpg
  • Click to enlarge image EDX1800B_open.jpg
  • Click to enlarge image rohs_logo.jpg
  •  

Spektrometr XRF RoHS Vision

Spektrometr XRF RoHS VISION firmy Xenemetrix został zaprojektowany specjalnie, aby umożliwić szybką i łatwą analizę zawartości substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS (dyrektywa o ograniczeniu zużycia substancji niebezpiecznych) i WEEE. Używając spektrometru RoHS VISION można z powodzeniem prowadzić analizy XRF zgodne ze wszystkimi wymogami dyrektywy RoHS, procedur weryfikacji MCV, wykorzystując procedury testowe ujęte w biuletynie IEC TC111. Analizator łączy w sobie sprawdzoną technologię Xenemetrix i nową intuicyjną technologię Selective Matrix Acquisition Reflexive Technology (SMART) umożliwiająca analizy wielu złożonych materiałów bez znajomości ich składu.
Spektrometr XRF RoHS Vision umożliwia zapis obrazu analizowanego obszaru dzięki kamerze CCD ze znacznikami wymiarów dla analiz próbek w skali Mikro i Makro. Urządzenie jest kompaktowe, o dużym potencjale analitycznym, jednocześnie proste w obsłudze dla osób nie posiadających szerokiej wiedzy analitycznej.

Dodatkowo spektrometr w wersji X-RoHS+SDD oprócz aplikacji przeznaczonej do analiz RoHS pozwala na pełną analizę jakościową i ilościową w zakresie od F-Fm. Spetrometr w tej wersji jest wyposażony w detektor SDD ze zoptymalizowanym okienkiem do pomiaru pierwiastków lekkich od fluoru. Detektor charakteryzuje się wyjątkowo dobrą rozdzielczością 125 eV, dzięki czemu można go wykorzystywać również do takich aplikacji jak: analiza paliw pod kątem siarki, analiza polimerów, metalurgia, analizy substancji mineralnych, kryminalistyka.

 

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź:www.learnxrf.comwww.learnxrf.com