Spektrometr XRF THICK800A

Spektrometr THICK 800A to XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. Spektrometr XRF THICK 800A może być wykorzystywany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i metalowym. Możliwe są analizy zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych (także powłok wielowarstwowych), a także do pomiaru składu kąpieli galwanicznych. Analizator XRF THICK800A oferuje pomiar do 24 pierwiastków lub do 5 warstw powłok. Dostarczany jest razem z oprogramowaniem XRF, zawierającym elementy metody parametrów fundamentalnych (FP).

Analizator XRF THICK 800A został wyposażony w górne źródło światła oraz kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego. Automatyczna ruchoma platforma 2D, podwójny lokalizator laserowy oraz kamera o wysokiej rozdzielczości, gwarantują precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego.