Spektrometr XRF THICK8000

Spektrometr XRF THICK8000 to wysokiej klasy spektrometr XRF z detektorem SDD przeznaczony do szybkiej i nieniszczącej analizy grubości powłok galwanicznych i składu pierwiastkowego powłok. Umożliwia pomiary XRF dla powłok metalicznych, pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny, cynku, chromu, itp.). Może być szeroko stosowany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim. Spektrometr XRF THICK8000 jest idealny do precyzyjnych analiz XRF w przemyśle galwanicznym, zarówno do pomiaru składu powłok jak i pomiaru grubości powłok galwanicznych oraz badania składu kąpieli galwanicznych.

Analizator XRF THICK 8000 dzięki zastosowaniu elektronicznie sterowanej ruchomej platformy (zapewnia ruch w trzech wymiarach) i systemowi pozycjonowania laserem umożliwia badanie próbki punkt po punkcie i pomiar grubości powłoki i analizę składu pierwiastkowego próbek o bardzo małych i dużych rozmiarach. XRF wyposażony został w wysokiej klasy detektor SDD oraz mikro-kolimatory z możliwością automatycznego przełączania.

Thick kolimatory

Spektrometr XRF THICK800A

SpektrometrTHICK 800A to XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. Spektrometr XRF THICK 800A może być wykorzystywany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i metalowym. Możliwe są analizy zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych (także powłok wielowarstwowych), a także do pomiaru składu kąpieli galwanicznych. Analizator XRF THICK800A oferuje pomiar do 24 pierwiastków lub do 5 warstw powłok. Dostarczany jest razem z oprogramowaniem XRF, zawierającym elementy metody parametrów fundamentalnych (FP).

Analizator XRF THICK 800A został wyposażony w górne źródło światła oraz kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego. Automatyczna ruchoma platforma 2D, podwójny lokalizator laserowy oraz kamera o wysokiej rozdzielczości, gwarantują precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego.