Spektrometry XRF
Spektrometry XRF

Spektrometry XRF (25)

Przenośne i laboratoryjne spektrometry rentgenowskie (XRF) przeznaczone są do identyfikacji stopów stali, metali nieżelaznych oraz aluminium, do nieniszczących analiz próbek mineralnych, glebowych, ceramiki i szkła. Analizatory XRF są polecane do badania stopów metali szlachetnych, w tym jubilerskich (karaty). Oferujemy spektrometry XRF posiadające funkcję pomiaru grubości powłok galwanicznych oraz analizatory XRF do badań zawartości siarki w paliwach, metali ciężkich w filtrach pyłowych lub wodzie. Posiadamy w ofercie urządzenia XRF do badania katalizatorów (Rh, Pd, Pt). Analizatory ED XRF (fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii) nadają się do badań na zgodność z dyrektywą RoHS, WEEE, ELV, Prop-65. W ofercie mamy również jedyne na rynku biurkowe spektrometry XRF Genius IF ze wzbudzeniem pierwotnym i wtórnym (tzw. secondary target) oraz urządzenia wyposażone w specjalne detektory z okienkami polimerowymi do analiz pierwiastków lekkich zaczynając od C (węgla).

X ray

W tym dziale:

Analizatory złota

Analizatory złota (5)

Analizatory złota XRF to najwygodniesze narzędzie do nieniszczącej analizy składu stopów metali szlachetnych takich jak złoto, srebro, platyna, pallad itp. Oferujemy ekonomiczne analizatory złota do badania karatowości, jak i zaawansowane spektrometry XRF pozwalające na dokladne analizy również nietypowych stopów metali szlachetnych, np. stopy dentystyczne, białe złoto, biżuteria rodowana itp. Jeśli nie wiesz, który analizator spełni Twoje wymagania, skontaktuj się z nami. Chętnie pomożemy w dobraniu najlepszego sprzętu w dobrej cenie.

Zobacz artykuły...
Analizatory grubości powłok

Analizatory grubości powłok (2)

Analiza grubości powłok metodą XRF to niezawodna, nieniszcząca metoda, pozwalająca na pomiar grubości warstw kilku lub kilkudziesięciu μm w zależności od materiału powłoki i matrycy. Spektrometry XRF mogą mierzyć z dużą dokładnością skład i grubość powłok pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny i cynku itp.). Przykładowe kalibracje: Al/Cu, Cu/Sn, Au/ceramika, Cu/plastik itp.

Zobacz artykuły...
XRF laboratoryjne - biurkowe

XRF laboratoryjne - biurkowe (9)

Polecamy jedyny na rynku biurkowy spektrometr XRF Genius IF firmy Xenemetrix ze wzbudzeniem pierwotnym i wtórnym (tzw. secondary target) do wymagających analiz.  W ofercie mamy również urządzenia wyposażone w specjalne detektory z okienkami polimerowymi zoptymalizowane do analiz pierwiastków lekkich zaczynając już od C (węgla). Laboratoryjne spektrometry rentgenowskie (XRF) przeznaczone są do dokładnych nieniszczących analiz składu różnych próbek od stopów metali, poprzez próbki mineralne, glebowe, ceramikę, szkło, aż do produktów petrochemicznych,…

Zobacz artykuły...
XRF przenośne

XRF przenośne (4)

Przenośne spektrometry XRF w wersji pistoletowej do szybkich analiz, sortowania metali, badań środowiskowych i geologicznych, katalizatory. Spektrometr S-Mobile w wersji mobilnej, do analiz w terenie w warunkach półlaboratoryjnych. Pozwalający na dokładne analizy w wygodny sposób, zapewnia większą stabilność i odtwarzalność pomiarów, co wpływa znacząco na czułość urządzenia i jego dokładność. Polecany do analiz geologicznych, sprawdzania paliw (wersja S-Mobile ULS) na ultra niską zawartość siarki (Normy ASTM D7212, D4294 and ISO…

Zobacz artykuły...
Analizatory siarki w olejach

Analizatory siarki w olejach (2)

Obecnie ważne staje się określenie zawartości siarki w produktach petrochemicznych szczególnie w benzynie, oleju napędowym i smarach. Nadmierna ilość siarki w paliwach reaguje z rozpuszczonym w nich powietrzem i obniża ich stabilność. Ponadto w procesach spalania przekształca się w SO2, który powoduje zanieczyszczenie atmosfery. Z tego względu ważne staje się kontrolowanie i ograniczanie zawartości siarki w produktach paliwowych. Do dokładnego oznaczania jej zawartości w próbkach płynnych można z powodzeniem wykorzystywać…

Zobacz artykuły...
Akcesoria XRF

Akcesoria XRF (3)

Wygodą i zaletą metody XRF w porównaniu do innych zaawansowanych technik analitycznych jest brak konieczności specjalistycznego przygotowywania próbki do badań. Jednak w przypadku niektórych aplikacji wybór odpowiedniej metody przygotowania próbki będzie miał wpływ na powtarzalność i dokładność otrzymanych wyników. Dotyczy to głównie analiz próbek mineralnych, gdzie ważna będzie homogenizacja materiału, zapobiegająca błędom podczas wykonywania analizy. Próbka powinna być możliwie drobno zmielona i wymieszana, następnie poddana prasowaniu (tabletkowaniu) lub ubiciu w…

Zobacz artykuły...
Spektrometry WDXRF

Spektrometry WDXRF (0)

Spektrometry fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją fali (WDXRF) charakteryzują się wysoką rozdzielczością co oznacza mniej nałożonych widm i niższą intensywność tła. W przypadku techniki WDXRF zazwyczaj nie ma potrzeby stosowania procedur rozdzielania widm, które mogą wprowadzać błędy. Wykorzystując metodę WDXRF mamy możliwość analizowania pierwiastków lekkich już od berylu (Be). Jest to też metoda zalecana dla pierwiastków ziem rzadkich.

Zobacz artykuły...
Młynek kulowy EQM-402 przeznaczony jest do homogenizacji próbki oraz mieszania jej z lepiszczem pod kątem późniejszych analiz XRF. Młynek może kruszyć, mieszać i homogenizować małe objętości materiału w bardzo krótkim…
Niektóre aplikacje w analizach XRF i LIBS wymagają odpowiedniego przygotowania próbki, by uzyskać powtarzalne i reprezentatywne wyniki. Dotyczy to głównie próbek mineralnych oraz innych próbek w postaci proszków, które należy…
Strona 1 z 13
Arabic Czech Estonian German Hungarian Latvian Lithuanian Russian Slovak Ukrainian Polish English