Spektrometr XRF EDX3000 PLUS

Spektrometr XRF EDX3000 PLUS to najnowszy model spektrometru fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF, przeznaczony specjalnie do dokładnych nieniszczących analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Sprawdzi się także jako uniwersalny analizator składu pierwiastkowego próbek. EDX3000 PLUS posiada nowoczesny wygląd , przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie XRF sprawiające, że analizy pierwiastkowe stają się proste i szybkie.
Dzięki nowoczesnemu detektorowi SDD o ulepszonej rozdzielczości możliwy jest rozdział pierwiastków występujących w stopach oraz i innych próbkach o nieznanym składzie, np. białe złoto (Au+Cu+Zn+Ni), stopy Ag+Sn, stopy Pt+Au, Au+W. EDX3000 PLUS umożliwia pomiar zanieczyszczeń w stopach metali szlachetnych, badanie katalizatorów i inne analizy XR%F. Znakomicie sprawdza się przy rafinacji metali i recyklingu metali. Spektrometry tego typu polecane są do pomiarów stopów jubilerskich w skupach złota, lombardach, kantorach, przy produkcji biżuterii, rafinacji metali i do analiz składu pierwiastkowego rożnych próbek.

  • Click to enlarge image EDX3000P_open.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_plus.jpg
  • Click to enlarge image precious_metals.jpg
  •  
View the embedded image gallery online at:
http://envisense.eu/tag/xrf.html#sigFreeIdf8dd52cfaa

Spektrometr XRF EDX3000

Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich. 

  • Click to enlarge image EDX3000.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_comp.jpg
  • Click to enlarge image EDX3000_open.jpg
  • Click to enlarge image gold_silver.jpg
  •  
View the embedded image gallery online at:
http://envisense.eu/tag/xrf.html#sigFreeIde29b9df796

Spektrometr XRF EDX600

Spektrometr XRF EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Spektrometr posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste, szybkie i dokładne.
Spektrometr XRF EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Spektrometr EDX600 polecany jest szczególnie do analiz typowych stopów złota (Au) i srebra (Ag). Spektrometr XRF sprawdzi się też przy pomiarach grubości  jednowarstwowych powłok metalicznych. Spektrometr wykonany jest z trwałych materiałów, posiada potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym.

 

  • Click to enlarge image EDX600.png
  • Click to enlarge image EDX600_close.jpg
  • Click to enlarge image EDX600_open.png
  • Click to enlarge image edx600 komora.jpg
  •  
View the embedded image gallery online at:
http://envisense.eu/tag/xrf.html#sigFreeIdacf018eef6

Spektrometr XRF EDX880

Spektrometr XRF EDX880 to prosty w obsłudze analizator biżuterii i innych wyrobów z metali szlachetnych, działający na zasadzie spektrometru EDXRF. Analizator EDX880 sprawdzi się w pomiarach składu chemicznego typowych stopów jubilerskich oraz przy określaniu karatowości złota. Źródło promieniowania oraz detektor (licznik proporcjonalny) umieszczone w górne części obudowy pozwalają na łatwiejszą manipulację próbką o niejednorodnej lub zakrzywionej powierzchni. Spektrometr XRF EDX880 jest polecany dla jubilerów, skupów złota, lombardów itp. Pomiary za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej (XRF EDX880) są całkowicie nieniszczące, nie ma ryzyka strat lub uszkodzenia próbki badanej.

Spektrometr XRF Cube100

CUBE 100  to  najnowszy  przenośny spektrometr  XRF  do  zastosowań  w jubilerstwie.  Wyróżnia  go  nowoczesny design,  lekka  konstrukcja  (4,5  kg)  oraz wygodny do przenoszenia uchwyt. Sterowanie spektrometrem odbywa się za pomocą dużego  ekranu  dotykowego co  eliminuje  konieczność  korzystania z dodatkowego komputera.
CUBE 100  świetnie  sprawdzi  się  jako urządzenie  testujące  zarówno w stacjonarnych sklepach i lombardach jak również do zastosowań terenowych (wyjazdy  do  klientów)  zwiększając
zakres działalności. Dostępny jest w dwóch wersjach różniących się typem zastosowanego detektora.

Spektrometr XRF THICK8000

Spektrometr XRF THICK8000 to wysokiej klasy spektrometr XRF z detektorem SDD przeznaczony do szybkiej i nieniszczącej analizy grubości powłok galwanicznych i składu pierwiastkowego powłok. Umożliwia pomiary XRF dla powłok metalicznych, pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny, cynku, chromu, itp.). Może być szeroko stosowany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim. Spektrometr XRF THICK8000 jest idealny do precyzyjnych analiz XRF w przemyśle galwanicznym, zarówno do pomiaru składu powłok jak i pomiaru grubości powłok galwanicznych oraz badania składu kąpieli galwanicznych.

Analizator XRF THICK 8000 dzięki zastosowaniu elektronicznie sterowanej ruchomej platformy (zapewnia ruch w trzech wymiarach) i systemowi pozycjonowania laserem umożliwia badanie próbki punkt po punkcie i pomiar grubości powłoki i analizę składu pierwiastkowego próbek o bardzo małych i dużych rozmiarach. XRF wyposażony został w wysokiej klasy detektor SDD oraz mikro-kolimatory z możliwością automatycznego przełączania.

Thick kolimatory

Spektrometr XRF THICK800A

SpektrometrTHICK 800A to XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. Spektrometr XRF THICK 800A może być wykorzystywany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i metalowym. Możliwe są analizy zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych (także powłok wielowarstwowych), a także do pomiaru składu kąpieli galwanicznych. Analizator XRF THICK800A oferuje pomiar do 24 pierwiastków lub do 5 warstw powłok. Dostarczany jest razem z oprogramowaniem XRF, zawierającym elementy metody parametrów fundamentalnych (FP).

Analizator XRF THICK 800A został wyposażony w górne źródło światła oraz kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego. Automatyczna ruchoma platforma 2D, podwójny lokalizator laserowy oraz kamera o wysokiej rozdzielczości, gwarantują precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego.

Spektrometr XRF EDX3200S PLUS

Spektrometr XRF EDX3200S PLUS to zaawansowany laboratoryjny analizator siarki (XRF) specjalnie zaprojektowany do badania ciekłych produktów petrochemicznych, takich jak: benzyna, olej napędowy, ropa naftowa, nafta, oleje smarujące, oleje opałowe i inne. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) charakteryzuje się krótkim czasem analizy, niskimi limitami detekcji oraz brakiem konieczności specjalnego przygotowania próbki. Siarka w paliwach jest składnikiem bardzo niepożądanym, a jej dokładny monitoring na różnych etapach produkcji paliwa może znacząco przyczynić się do polepszenia jakości produktu końcowego.

Spektrometr EDX3200S Plus wyposażony jest w detektor SDD o ulepszonej rozdzielczości. Limit detekcji dla siarki wynosi 10 ppm w atmosferze powietrza i można go obniżyć aż do 3 ppm przy wykorzystaniu atmosfery helu. Analizator siarki XRF EDX3200S PLUS jest polecany producentom paliw płynnych, rafineriom oraz jednostkom kontrolującym jakość paliw. Spektrometr XRF zapewnia pomiary zgodne z ASTM D4294. Dodatkowo można wykonać kalibracje na pomiary chloru w paliwach i innych produktach petrochemicznych.

Spektrometr XRF EDX3200S

Spektrometr XRF EDX3200S to prosty analizator laboratoryjny wykorzystujący metodę XRF do szybkiej i nieniszczącej analizy produktów petrochemicznych pod kątem obecności siarki i innych niepożądanych pierwiastków. Pomiary są proste, dokładne i nie wymagają czynności związanych z przygotowaniem próby. W chwili obecnej staje się ważne określenie zawartości siarki w produktach petrochemicznych, szczególnie w benzynie, oleju napędowym czy smarach. Nadmierna ilość siarki w paliwach reaguje z rozpuszczonym w nich powietrzem i obniża ich stabilność. Ponadto w procesach spalania przekształca się w SO2, które powoduje zanieczyszczenie atmosfery. Z tego względu ważne jest kontrolowanie i ograniczanie jej zawartości. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) świetnie się do tego celu nadaje.

Spektrometr EDX 3200S wyposażony jest w górne źródło promieniowania, które oszczędza zużycie membrany ochronnej, zwiększa dokładność pomiaru i zapobiega zabrudzeniu oraz uszkodzeniu lampy XRF i okienka berylowego detektora. Pokrywa analizatora zapewnia odpowiednią ochronę użytkownika przed promieniowaniem.

Spektrometr XRF EDX1800B

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do pomiarów półproduktów jak i wyrobów gotowych. EDX1800B znajduje zastosowanie w kontroli jakości wyrobów elektrycznych i elektronicznych, w przemyśle zabawkarskim i ceramicznym. Oprogramowanie XRF posiada wygodną funkcje PASS/FAIL przy wykonywaniu pomiarów na obecność pierwiastków niebezpiecznych jak rtęć, kadm, ołów, chrom. Dodatkowo spektrometr XRF można dostosować do analiz chemicznego składu stopów, wtedy znajdzie zastosowanie również przy recyklingu i sortowaniu metali oraz w przemyśle metalurgicznym.

  • Click to enlarge image EDX1800B.jpg
  • Click to enlarge image EDX1800B_open.jpg
  • Click to enlarge image rohs_logo.jpg
  •  
View the embedded image gallery online at:
http://envisense.eu/tag/xrf.html#sigFreeIdd9f3eeab64

Strona 1 z 2