Analiza grubości powłok metodą XRF to niezawodna, nieniszcząca metoda, pozwalająca na pomiar grubości warstw kilku lub kilkudziesięciu μm w zależności od materiału powłoki i matrycy. Spektrometry XRF mogą mierzyć z dużą dokładnością skład i grubość powłok pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny i cynku itp.). Przykładowe kalibracje: Al/Cu, Cu/Sn, Au/ceramika, Cu/plastik itp.
Nasza ofertaAnalizatory żywności i pasz analizatory mleka, analizatory pasz, analizatory NIRGeneratory gazów N2 H2 PowietrzeHomogenizatory laboratoryjne mechaniczne, ultradźwiękoweInkubatory, cieplarkiKolorymetry, mierniki barwy, spektrofotometry Lepkościomierze rotacyjne Łaźnie laboratoryjne łaźnie wodne, łaźnie piaskowe, łaźnie olejowe, łaźnie chłodzące, łaźnie histologiczne, łaźnie kulkoweMieszadła magnetyczne i podgrzewacze mieszadła wielostanowiskowe, ławy grzewczeMieszadła mechaniczneMikroskopy biologiczne, cyfrowe, metalograficzne, gemmologiczneMłynki planetarne, kulowe, tnące, moździerzowePolarymetry kołowe, półautomatyczne, automatycznePompy perystaltyczne dozujące, przepływowe, systemy napełniania, przemysłoweSpektrometry XRFSpektrometry UV-VIS jednowiązkowe, dwuwiązkoweWytrząsarki orbitalne, inkubacyjne
