Analiza grubości powłok metodą XRF to niezawodna, nieniszcząca metoda, pozwalająca na pomiar grubości warstw kilku lub kilkudziesięciu μm w zależności od materiału powłoki i matrycy. Spektrometry XRF mogą mierzyć z dużą dokładnością skład i grubość powłok pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny i cynku itp.). Przykładowe kalibracje: Al/Cu, Cu/Sn, Au/ceramika, Cu/plastik itp.
Nasza ofertaAnalizatory żywności analizatory mleka, liczniki komórek somatycznychHomogenizatory laboratoryjne mechaniczne, ultradźwiękoweInkubatory, cieplarkiKolorymetry, mierniki barwy, spektrofotometry Lepkościomierze rotacyjne Łaźnie laboratoryjne łaźnie wodne, łaźnie piaskowe, łaźnie olejowe, łaźnie chłodzące, łaźnie histologiczne, łaźnie kulkoweMieszadła magnetyczne i podgrzewacze mieszadła wielostanowiskowe, ławy grzewczeMieszadła mechaniczneMłynki planetarne, kulowe, tnące, moździerzowePolarymetry kołowe, półautomatyczne, automatycznePompy perystaltyczne dozujące, przepływowe, systemy napełniania, przemysłoweSpektrometry XRFSpektrometry UV-VIS jednowiązkowe, dwuwiązkoweWytrząsarki orbitalne, inkubacyjneWięcej aparatury laboratoryjnejAby zapewnić najwyższą jakość usług, wykorzystujemy informacje przechowywane w przeglądarce internetowej poprzez pliki cookies. Możesz sprawdzić cel, warunki przechowywania lub dostęp do nich w Polityce prywatności serwisu.
