Spektrometr XRF EDX 2000A
Spektrometr XRF EDX 2000A z górnym źródłem promieniowania i ruchomym stolikiem, zaprojektowany do pomiaru grubości i składu powłok galwanicznych. Podwójny system pozycjonowania próbki i szeroki wybór kolimatorów umożliwiają precyzyjne pomiary małych i nieregularnych elementów. Zakres pierwiastkowy od glinu do uranu.
- Górne źródło promieniowania i ruchomy stolik
- Pomiar grubości i składu powłok galwanicznych
- Podwójny system pozycjonowania próbki
- Szeroki wybór kolimatorów do małych elementów
- Powłoki pojedyncze, podwójne i złożone
- Zakres pierwiastkowy od glinu do uranu
Spektrometr XRF EDX 2000A z górnym źródłem promieniowania i ruchomym stolikiem zaprojektowano specjalnie do pomiaru grubości oraz składu powłok galwanicznych. Nieniszcząca metoda fluorescencji rentgenowskiej pozwala kontrolować powłoki bez uszkadzania badanego elementu.
Precyzja na trudnych kształtach
Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów umożliwiają dokładny pomiar nawet elementów o niewielkich rozmiarach lub skomplikowanych kształtach — powierzchni wklęsło-wypukłych, narożnych i łukowych. Dzięki temu EDX 2000A radzi sobie tam, gdzie standardowe geometrie pomiaru zawodzą.
Zastosowanie i zakres
Analizator sprawdza się przy pomiarze powłok galwanicznych pojedynczych, podwójnych i złożonych oraz próbek o nieregularnych kształtach. Zakres pierwiastkowy od glinu do uranu obejmuje typowe warstwy stosowane w galwanotechnice. Do analiz składu materiałów proszkowych i stopów przeznaczone są laboratoryjne spektrometry XRF; w terenie sprawdzą się przenośne XRF. Wyślij zapytanie, a szybko otrzymasz ofertę cenową — napisz do nas.