Spektrometr XRF EDX3000
Precyzyjny spektrometr XRF z chłodzonym elektrycznie detektorem Si-PIN i kamerą pomiaru punktowego — rozdzieli białe złoto, zmierzy grubość powłok galwanicznych i sprawdzi zgodność z RoHS. Własne wzorce i krzywe kalibracyjne.
- Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN o podwyższonej rozdzielczości
- Wbudowana kamera — precyzyjny pomiar punktowy pierścionków i łańcuszków
- Rozdział trudnych stopów, m.in. białego złota
- Pomiar grubości powłok i badania zgodności z RoHS
- Własne wzorce i krzywe kalibracyjne w oprogramowaniu
Tam, gdzie prosty tester karatów przestaje wystarczać, zaczyna się pole EDX3000. Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości pozwala rozdzielić składniki bardziej wymagających stopów jubilerskich — z białym złotem na czele — oraz wychwycić drobne domieszki innych metali w stopie.
Pomiar dokładnie tam, gdzie trzeba
Wbudowana kamera pokazuje na żywo badany fragment próbki, więc punkt pomiarowy ustawisz precyzyjnie nawet na cienkim łańcuszku, oczku pierścionka czy grawerowanej zawieszce. To rozwiązuje typowy problem analiz drobnej biżuterii o nieregularnych kształtach — mierzysz dokładnie ten fragment wyrobu, który Cię interesuje.
Więcej niż złoto
EDX3000 wykracza poza jubilerstwo: zmierzy grubość powłok galwanicznych i sprawdzi materiały pod kątem zgodności z dyrektywą RoHS. Oprogramowanie analityczne pozwala dodawać własne wzorce i budować nowe krzywe kalibracyjne, więc aparat rośnie razem z potrzebami laboratorium.
Analiza XRF pozostaje w pełni nieniszcząca — od surowca po gotowy wyrób. Jeżeli rozważasz jeszcze wyższą rozdzielczość detektora SDD, porównaj EDX3000 PLUS; w doborze konfiguracji chętnie pomożemy.