Spektrometr XRF Genius-IF
Biurkowy spektrometr EDXRF Genius-IF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, łączący wysoką jakość pomiarów z ekonomią analizy pierwiastkowej. Nieniszcząca analiza od węgla (C6) do fermu (Fm100), detektor SDD o doskonałej rozdzielczości i opatentowany układ WAG obniżający limity detekcji.
- Wtórne filtry odbiciowe dla optymalnego wzbudzenia
- Zakres analizy od węgla (C6) do fermu (Fm100)
- Detektor SDD o doskonałej rozdzielczości widmowej
- Opatentowany układ WAG (Wide Angle Geometry)
- Osiem filtrów odbiciowych i osiem wzbudzenia bezpośredniego
- Niskie limity detekcji, także pierwiastki lekkie
Genius-IF to pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi — połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii analizy pierwiastkowej. Zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w zakresie od węgla (C6) do fermu (Fm100), a najnowszej generacji detektor SDD ma doskonałą rozdzielczość widmową i wykrywa pierwiastki od ilości śladowych do 100%.
Filtry odbiciowe i układ WAG
Genius-IF ma unikatowy układ optyczny łączący osiem wtórnych filtrów odbiciowych oraz osiem filtrów w trybie wzbudzenia bezpośredniego, co zapewnia optymalne warunki wzbudzenia dla wszystkich pierwiastków wykrywanych metodą EDXRF. Opatentowany układ WAG (Wide Angle Geometry) wykorzystuje filtry odbiciowe do optymalnej analizy pierwiastków głównych i śladowych w próbce.
Niskie limity detekcji
Wiązka rentgenowska wzbudza charakterystyczne linie K filtrów odbiciowych, które następnie wzbudzają próbkę wiązką „monochromatyczną" — takie rozwiązanie znacząco obniża limity detekcji poszczególnych pierwiastków. Dzięki temu Genius-IF sprawdza się również w kłopotliwych analizach pierwiastków lekkich, co czyni go jednym z najbardziej wszechstronnych spektrometrów XRF. Do wysokowydajnych pomiarów z lampą o dużej mocy przeznaczony jest X-Calibur; do analiz mineralnych — EDX3600H. Wyślij zapytanie, a szybko otrzymasz ofertę cenową — napisz do nas.