Mikroskop metalograficzny XJM600

Zaawansowane mikroskopy metalograficzne serii XJM600 wykorzystujące światło odbite i przepuszczane to kompleksowo wyposażone modele dolnostolikowe z licznymi aplikacjami takimi jak np. metoda jasnego i ciemnego pola, DIC (kontrast interferencyjny), obserwacje w polaryzacji, itp. Mikroskopy serii XJM600 są produkowane z myślą o przemysle półprzewodników, wytwarzania płytek półprzewodnikowych, elektronicznej branży informatycznej, metalurgii itd. Seria XJM600 jest przeznaczona do badań wykorzystywanych przy FPD (systemy litograficzne płaskie), hermetyzacji obwodu, podłożach obwodu, odlewaniu materiału, metalu i części ceramicznych, formach precyzyjnych, itp.
Ergonomiczna konstrukcja sprawia, że praca z mikroskopem serii XJM600 jest dla użytkownika wygodna. Do przechwytywania obrazu może być wykorzystywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, które stanowią dodatkowe wyposażenie mikroskopu, dostępne jest także przyjazne użytkownikowi oprogramowanie pozwalające na analizę otrzymanego obrazu. W serii XJM600 posiadamy dwa modele: XJM600B i XJM600T, w wersji dwuokularowej i trinokularowej. Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową, a także filtry zapewniają wysoką rozdzielczość i dobrą jakość oglądanych obrazów.

Mikroskop metalograficzny XJM100

Mikroskop metalurgiczny serii XJM100 wykorzystuje światło odbite i przechodzące, co pozwala na obserwację zarówno próbek przezroczystych jak i nieprzezroczystych.
Mikroskopy serii XJM100 zapewniają doskonałą jasność i kontrast optyczny, pożądane przez najbardziej wymagających naukowców pracujących z mikroskopami, przy jednoczesnym zachowaniu świetnego stosunku kosztów mikroskopów serii XJM100 do jakości uzyskiwanych obrazów. Do przechwytywania obrazów może być wykorzytywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, jako opcja dodatkowa dostępne jest profesjonalne i przyjazne w użytkowaniu oprogramowanie.
W tej serii klient ma do wyboru model bi- i trinokularowy, w których kondensor Abbego jest standartowym wyposażeniem.

Mikroskop metalograficzny XJM400

Mikroskopy metalurgiczne odwrócone serii XJM400 pozwalają na uzyskiwanie płaskich, ostrych, wyraźnych obrazów jednocześnie osiągając dłuższe odległości robocze. Mikroskopy wykorzystują metodę jasnego pola, mają kompaktową i trwałą budowę, a ich obsługa jest nieskomplikowana. Seria XJM400 są idealne do komponentów metalograficznych i elektronicznych, jak również w badaniach materiałów i działach kontroli jakości. Do mikroskopów można zamontować matrycę CCD lub aparat cyfrowy w celu przechwytywania obrazu, zaś profesjonalne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie do analizy metalurgicznych jest dostępne jako dodatkowa opcja.