Spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius

Ręczny spektrometr XRF EDX-Pocket IV Genius o niewielkiej wadze i rozmiarach oraz doskonałych parametrach pomiarowych sprawdzi się zarówno w analizach terenowych jak i w pracy w laboratorium stacjonarnym. Spektrometry XRF Genius w zależności od modułu aplikacyjnego mogą być używane jako analizatory składu stopów, gleby, metali szlachetnych, minerałów oraz analizatory substancji niebezpiecznych. Analizatory XRF mogą być również doskonałym narzędziem w takich dziedzinach jak określanie klasy rud, analizy metali na złomowiskach i w procesach recyklingu, badania archeologiczne itp.

Spektrometr XRF Genius wyposażony jest w najnowszy detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, nowe ulepszone oprogramowanie analityczne wykorzystujące algorytmy krzywych wzorcowych i FP. Opcjonalny system helowy służący do wykonywania dokładniejszych analiz XRF pierwiastków lekkich oraz poprawienia dokładności w analizach halogenków.
Linia produktów XRF Genius obejmuje 4 moduły analityczne: analizator RoHS Genius 3000XRF, analizator stopów Genius 5000XRF, analizator minerałów Genius 7000XRF oraz analizator metali ciężkich w glebach Genius 9000XRF. Każdy z nich posiada funkcje optymalnie dostosowujące go do warunków pracy, szybkiej identyfikacji badanego materiału i analizy zakresu pierwiastków właściwego dla danej aplikacji. Moduły pomiarowe można dowolnie łączyć. Dostępne są także modułu innych niestandardowych analiz XRF.