Spektrometry XRF

Laboratoryjny spektrometr XRF na stanowisku badawczym

Przenośne i laboratoryjne spektrometry fluorescencji rentgenowskiej (XRF) do nieniszczącej analizy składu pierwiastkowego — stopów metali, metali szlachetnych, minerałów, gleb, katalizatorów i badań zgodności z RoHS. Doradzimy, który analizator XRF pasuje do Twojej próbki i budżetu.

Spektrometry XRF — dostępne modele

  • Miksujący młynek kulowy EQM-402 do przygotowania próbek XRF

    Miksujący młynek kulowy EQM-402

    EQM-402 przygotowuje próbki do spektrometrii XRF — rozdrabnia wsad o różnej twardości (do 50 ml), a potem wmiesza w niego lepiszcze. Dwie komory pracujące równolegle sprowadzają ziarno poniżej 10 µm w 1–4 minuty. Sterowanie z ekranu dotykowego i 5 zapisywanych programów roboczych.

    • Rozdrabnianie i wmieszanie lepiszcza przed analizą XRF
    • Wsad o różnej twardości — od kruchego po półtwardy, do 50 ml
    • Dwie komory mielące pracujące jednocześnie
    • Redukcja ziarna do poniżej 10 µm w 1–4 minuty
  • Półautomatyczna prasa XRF EQP-110 do pastylek

    Półautomatyczna prasa XRF EQP-110

    EQP-110 to prasa półautomatyczna do seryjnego wytwarzania jednakowych pastylek pod pomiary XRF i LIBS. Pięć nastaw prasowania — w cyklu pojedynczym lub podwójnym ze zmiennym ciśnieniem — daje płaskie, gładkie krążki bez pęknięć i pyłu. Trwała rama, prosta obsługa, niezawodna praca.

    • Jednakowe pastylki pod pomiary XRF i LIBS
    • Pięć nastaw prasowania do wyboru
    • Cykl pojedynczy lub podwójny ze zmiennym ciśnieniem
    • Płaskie, gładkie krążki bez pęknięć i pyłu
  • Ręczna prasa hydrauliczna EQP-30 o nacisku do 30 ton

    Ręczna prasa hydrauliczna EQP-30

    EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna generująca nacisk sięgający 30 ton, dobrana do pastylek 40 mm. Układ hydrauliczny wielokrotnie wzmacnia siłę ręki operatora, a wbudowane zabezpieczenie samoczynnie spuszcza ciśnienie tuż przed granicą 30 ton. Przygotowuje próbki pod techniki XRF i FTIR.

    • Nacisk sięgający 30 ton, pastylki 40 mm
    • Układ hydrauliczny wzmacnia siłę ręki operatora
    • Samoczynny upust ciśnienia przy granicy nacisku
    • Masywna, wytrzymała rama
  • Ręczna prasa do tabletek XRF PC-15BS z manometrem

    Ręczna prasa do tabletek XRF PC-15BS

    Dwukolumnowa ręczna prasa do tabletek PC-15BS z manometrem, zaprojektowana do przygotowywania próbek do analizy XRF. Łączy prostą obsługę z precyzją i stabilnością nacisku, dając jednorodne i trwałe pastylki. Możliwość stosowania różnych matryc w zależności od aplikacji.

    • Dwukolumnowa konstrukcja — stabilna, równomierna siła nacisku
    • Ręczne sterowanie do prac laboratoryjnych
    • Manometr do dokładnej kontroli ciśnienia
    • Jednorodne, trwałe pastylki do analiz XRF
  • Przenośny analizator siarki XRF Cube 100S

    Analizator siarki XRF Cube 100S

    Przenośny analizator XRF Cube 100S do oznaczania siarki i chloru w olejach oraz produktach petrochemicznych, także w niskich zawartościach. Do analiz surowców, kontroli na etapach produkcji i badań wyrobów gotowych. Spełnia założenia MARPOL oraz normy ISO 8217, ISO 8754, ASTM D4294 i ASTM D6445.

    • Wykrywanie siarki i chloru w niskich zawartościach
    • Analiza olejów i produktów petrochemicznych
    • Kontrola na różnych etapach produkcji
    • Zgodność z konwencją MARPOL
  • Przenośny spektrometr XRF Cube100 z ekranem dotykowym

    Spektrometr XRF Cube100

    Przenośny analizator złota XRF o wadze zaledwie 4,5 kg — pełna analiza stopów metali szlachetnych (Au, Ag, Pt, Pd) w 5–90 s na ekranie dotykowym, bez komputera. Detektor Si-PIN lub SDD, zakres od 1 ppm do 99,99%.

    • Waga 4,5 kg i uchwyt transportowy — praca w sklepie, lombardzie i w terenie
    • Sterowanie z dużego ekranu dotykowego, bez zewnętrznego komputera
    • Dwie wersje detektora do wyboru — Si-PIN lub SDD
    • Zakres pomiarowy od 1 ppm do 99,99%, wynik w 5–90 sekund
  • Spektrometr XRF EDX 1800B do analiz RoHS

    Spektrometr XRF EDX 1800B

    Analizator fluorescencji rentgenowskiej EDX 1800B zaprojektowany do szybkich, nieniszczących analiz zgodności z dyrektywą RoHS/WEEE. Funkcja PASS/FAIL dla pierwiastków niebezpiecznych (rtęć, kadm, ołów, chrom), intuicyjne polskie oprogramowanie oraz opcjonalne rozszerzenie o chlor i wersja z detektorem SDD.

    • Analizy zgodności z RoHS/WEEE, funkcja PASS/FAIL
    • Wykrywanie rtęci, kadmu, ołowiu i chromu
    • Szybkie, w pełni nieniszczące pomiary XRF
    • Kontrola wyrobów elektrycznych, zabawek, ceramiki
  • Spektrometr XRF EDX 2000A do pomiaru grubości powłok galwanicznych

    Spektrometr XRF EDX 2000A

    Spektrometr XRF EDX 2000A z górnym źródłem promieniowania i ruchomym stolikiem, zaprojektowany do pomiaru grubości i składu powłok galwanicznych. Podwójny system pozycjonowania próbki i szeroki wybór kolimatorów umożliwiają precyzyjne pomiary małych i nieregularnych elementów. Zakres pierwiastkowy od glinu do uranu.

    • Górne źródło promieniowania i ruchomy stolik
    • Pomiar grubości i składu powłok galwanicznych
    • Podwójny system pozycjonowania próbki
    • Szeroki wybór kolimatorów do małych elementów
  • Spektrometr XRF EDX 6000B z podajnikiem na 10 próbek

    Spektrometr XRF EDX 6000B

    Profesjonalny laboratoryjny spektrometr EDXRF EDX 6000B z podajnikiem na 10 pozycji do szybkich testów wielu próbek w jednej partii. Polecany do analiz próbek mineralnych i stopów metali w przemyśle cementowym, galwanicznym i metalurgii. Jednoczesna analiza wszystkich pierwiastków oraz opcja kalibracji RoHS.

    • Podajnik na 10 pozycji — seryjne testy próbek
    • Analizy próbek mineralnych i stopów metali
    • Jednoczesna analiza wszystkich pierwiastków w próbce
    • Sprawdza się przy niewielkich ilościach próbki
  • Laboratoryjny spektrometr XRF EDX 6000C

    Spektrometr XRF EDX 6000C

    Zaawansowany laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDX 6000C, oferujący pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu. Poszerzony zakres pierwiastkowy (F–U) i obniżone limity detekcji dzięki ultra cienkiemu okienku grafenowemu w detektorze. Cztery konfiguracje komory pomiarowej.

    • Pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu
    • Poszerzony zakres pierwiastkowy od fluoru do uranu
    • Ultra cienkie okienko grafenowe w detektorze
    • Obniżone limity detekcji dla pierwiastków lekkich
  • Spektrometr XRF EDX3000 PLUS z detektorem SDD

    Spektrometr XRF EDX3000 PLUS

    Topowy analizator metali szlachetnych z wysokorozdzielczym detektorem SDD — rozdziela złożone stopy (białe złoto, Ag+Sn, Pt+Au, Au+W), mierzy zanieczyszczenia przy rafinacji i recyklingu oraz analizuje katalizatory i próbki o nieznanym składzie.

    • Nowoczesny detektor SDD o wysokiej rozdzielczości
    • Rozdział złożonych stopów — białe złoto, Ag+Sn, Pt+Au, Au+W
    • Pomiar zanieczyszczeń przy rafinacji i recyklingu metali
    • Analiza katalizatorów i próbek o nieznanym składzie
  • Spektrometr XRF EDX3000 z kamerą do pomiaru punktowego

    Spektrometr XRF EDX3000

    Precyzyjny spektrometr XRF z chłodzonym elektrycznie detektorem Si-PIN i kamerą pomiaru punktowego — rozdzieli białe złoto, zmierzy grubość powłok galwanicznych i sprawdzi zgodność z RoHS. Własne wzorce i krzywe kalibracyjne.

    • Chłodzony elektrycznie detektor Si-PIN o podwyższonej rozdzielczości
    • Wbudowana kamera — precyzyjny pomiar punktowy pierścionków i łańcuszków
    • Rozdział trudnych stopów, m.in. białego złota
    • Pomiar grubości powłok i badania zgodności z RoHS
  • Spektrometr XRF EDX 3200S z komorą próżniową do analiz siarki

    Spektrometr XRF EDX 3200S

    Analizator XRF EDX 3200S do oznaczania siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych, zaprojektowany zgodnie z ASTM D7039. Komora próżniowa zamiast płuczki helowej ogranicza koszty eksploatacji, a wbudowany monitor dotykowy z oprogramowaniem eliminuje potrzebę komputera zewnętrznego. Nadaje się do laboratoriów mobilnych.

    • Oznaczanie siarki w glebach, olejach i petrochemii
    • Zgodność z normą ASTM D7039
    • Komora próżniowa zamiast płuczki helowej
    • Niższe koszty eksploatacji i wygodniejsza praca
  • Przenośny spektrometr MWD-XRF EDX3300S do analiz siarki

    Przenośny spektrometr MWD-XRF EDX3300S

    Unikalny przenośny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją fali (MWD-XRF) EDX3300S, zaprojektowany do kontroli zawartości siarki w paliwach zgodnie z ASTM D7039. Technologia monochromatycznej dyspersji fali umożliwia osiąganie najniższych limitów detekcji siarki. Niewielkie wymiary do pracy w terenie i laboratorium mobilnym.

    • Technologia MWD-XRF (monochromatyczna dyspersja fali)
    • Najniższe możliwe limity detekcji siarki
    • Kontrola siarki w benzynie i oleju napędowym
    • Zgodność z normą ASTM D7039
  • Spektrometr XRF EDX3600H do próbek mineralnych i stopów

    Spektrometr XRF EDX3600H

    Profesjonalny laboratoryjny spektrometr EDXRF EDX3600H do pełnych analiz pierwiastkowych, szczególnie polecany do próbek mineralnych i stopów metali. Technika rozdziału widma (wieloetapowy pomiar z różnymi parametrami) zwiększa dokładność równoczesnej analizy pierwiastków ciężkich i lekkich. Polskie oprogramowanie i szkolenie.

    • Analizy próbek mineralnych i stopów metali
    • Technika rozdziału widma — wieloetapowy pomiar XRF
    • Większa dokładność analizy pierwiastków ciężkich i lekkich
    • Pełne analizy pierwiastkowe w jednym przyrządzie
  • Laboratoryjny spektrometr XRF EDX3600K z detektorem SDD

    Spektrometr XRF EDX3600K

    Zaawansowany stacjonarny spektrometr EDXRF EDX3600K do zastosowań laboratoryjnych, z detektorem SDD i powiększonym okienkiem berylowym rozszerzającym zakres od fluoru (F9). Zaprojektowany do analiz materiałów proszkowych — metalurgii proszków, przemysłu cementowego, hutnictwa i wydobycia. Dobra wykrywalność pierwiastków lekkich.

    • Detektor SDD z powiększonym okienkiem berylowym
    • Zakres pomiarowy rozszerzony od fluoru (F9)
    • Lepsza analiza pierwiastków lekkich — Si, Al, S
    • Do materiałów proszkowych i metalurgii proszków
  • Spektrometr XRF EDX600 do analizy złota i srebra

    Spektrometr XRF EDX600

    Sprawdzony spektrometr XRF do codziennych analiz stopów złota i srebra — licznik proporcjonalny, potrójne zabezpieczenie przed promieniowaniem i pomiar grubości pojedynczych powłok metalicznych przy niskich kosztach eksploatacji.

    • Dokładne analizy typowych stopów Au i Ag przy niskich kosztach eksploatacji
    • Dodatkowo pomiar grubości jednowarstwowych powłok metalicznych
    • Potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym
    • Przyjazny interfejs i profesjonalne oprogramowanie analityczne
  • Spektrometr XRF EDX880 do analizy wyrobów jubilerskich

    Spektrometr XRF EDX880

    Ekonomiczny analizator karatowości EDXRF z licznikiem proporcjonalnym i górnym układem pomiarowym — wygodne, nieniszczące badanie obrączek, monet i biżuterii o nieregularnych kształtach. Idealny do skupu złota i lombardu.

    • Źródło promieniowania i detektor w górnej części obudowy — łatwe pozycjonowanie próbki
    • Pomiar karatowości i składu typowych stopów jubilerskich
    • Licznik proporcjonalny — niskie koszty zakupu i eksploatacji
    • Analiza w pełni nieniszcząca, bez ryzyka uszkodzenia wyrobu
  • Przenośny spektrometr XRF Explorer z detektorem SDD

    Przenośny spektrometr XRF Explorer

    Ręczny spektrometr XRF Explorer najnowszej generacji do analiz laboratoryjnych i terenowych — z detektorem SDD, kamerą HD i oprogramowaniem z krzywymi wzorcowymi oraz analizą bezwzorcową (FP). Jedna platforma w czterech kalibracjach — RoHS i pierwiastki szkodliwe (3000), stopy i PMI (5000), rudy i geologia (7000) oraz metale ciężkie w glebie (9000). Bateria 9000 mAh na 12 h pracy.

    • Ręczny XRF do analiz terenowych i laboratoryjnych
    • Detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości, kamera HD
    • Cztery warianty — RoHS 3000, stopy 5000, rudy 7000, gleba 9000
    • Analiza pierwiastków lekkich bez helu i próżni
  • Spektrometr XRF Genius-IF z filtrami odbiciowymi

    Spektrometr XRF Genius-IF

    Biurkowy spektrometr EDXRF Genius-IF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, łączący wysoką jakość pomiarów z ekonomią analizy pierwiastkowej. Nieniszcząca analiza od węgla (C6) do fermu (Fm100), detektor SDD o doskonałej rozdzielczości i opatentowany układ WAG obniżający limity detekcji.

    • Wtórne filtry odbiciowe dla optymalnego wzbudzenia
    • Zakres analizy od węgla (C6) do fermu (Fm100)
    • Detektor SDD o doskonałej rozdzielczości widmowej
    • Opatentowany układ WAG (Wide Angle Geometry)
  • Mobilny spektrometr XRF P-Metrix

    Mobilny spektrometr XRF P-Metrix

    Mobilny spektrometr EDXRF P-Metrix łączący moc analityczną urządzenia stacjonarnego z zaletami przyrządu przenośnego. Automatyczna pokrywa, detekcja obecności próbki, kamera podglądowa i zabezpieczenia elektroniczne. Zasilanie z baterii Li-ion, składana konstrukcja i możliwość połączenia ze stacjonarnym laboratorium.

    • Moc analityczna urządzenia stacjonarnego w wersji mobilnej
    • Automatyczna pokrywa i detekcja obecności próbki
    • Kamera podglądowa i zabezpieczenia elektroniczne
    • Solidna, składana konstrukcja do transportu
  • Kompaktowy mobilny spektrometr XRF S-Mobile

    Mobilny spektrometr XRF S-Mobile

    Kompaktowy mobilny spektrometr XRF S-Mobile z lampą rentgenowską o mocy 50 kV / 50 W, zapewniający analizy na poziomie laboratoryjnym w terenie. Wersja ULS do analiz siarki na poziomie pojedynczych ppm (limit detekcji 1,3 ppm) zgodna z ASTM D4294 i ISO 20847 oraz wersja Petro-Marine na statki.

    • Lampa X-ray 50 kV / 50 W — analizy laboratoryjne w terenie
    • Rozbudowana analiza bezwzorcowa (SLFP)
    • Wersja ULS — siarka na poziomie ppm, limit 1,3 ppm
    • Zgodność z ASTM D4294, D7212, ISO 20847, IP 531
  • Spektrometr XRF X-Calibur o dużej mocy lampy

    Spektrometr XRF X-Calibur

    Laboratoryjny spektrometr EDXRF X-Calibur o dużej mocy lampy rentgenowskiej i zwartej budowie, zapewniający wysoką wydajność pomiarów i dużą rozdzielczość detektora. Unikalna geometria lampy „close couple" skraca odległość próbka–lampa–detektor. Oprogramowanie z analizą bezwzorcową Fundamental Parameters.

    • Duża moc lampy rentgenowskiej, zwarta budowa
    • Geometria lampy „close couple" z anodą z przodu
    • Wysoka wydajność i duża rozdzielczość detektora
    • Analiza jakościowa, ilościowa i półilościowa

Szukasz odpowiedniego produktu?

Napisz do nas — pomożemy dobrać rozwiązanie.

Skontaktuj się