Spektrometr XRF THICK8000

Spektrometr XRF THICK8000 to wysokiej klasy spektrometr XRF z detektorem SDD przeznaczony do szybkiej i nieniszczącej analizy grubości powłok galwanicznych i składu pierwiastkowego powłok. Umożliwia pomiary XRF dla powłok metalicznych, pojedynczych lub wielowarstwowych (złota, srebra, miedzi, niklu, cyny, cynku, chromu, itp.). Może być szeroko stosowany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim. Spektrometr XRF THICK8000 jest idealny do precyzyjnych analiz XRF w przemyśle galwanicznym, zarówno do pomiaru składu powłok jak i pomiaru grubości powłok galwanicznych oraz badania składu kąpieli galwanicznych.

Analizator XRF THICK 8000 dzięki zastosowaniu elektronicznie sterowanej ruchomej platformy (zapewnia ruch w trzech wymiarach) i systemowi pozycjonowania laserem umożliwia badanie próbki punkt po punkcie i pomiar grubości powłoki i analizę składu pierwiastkowego próbek o bardzo małych i dużych rozmiarach. XRF wyposażony został w wysokiej klasy detektor SDD oraz mikro-kolimatory z możliwością automatycznego przełączania.

Thick kolimatory

Spektrometr XRF THICK800A

SpektrometrTHICK 800A to XRF z detektorem Si-PIN lub SDD przeznaczony do analiz grubości i składu powłok galwanicznych o specjalnej konstrukcji umożliwiającej wygodną wielopunktową analizę produktów w przemyśle galwanicznym, jubilerskim i elektronicznym. Spektrometr XRF THICK 800A może być wykorzystywany w badaniach zawartości złota, platyny, srebra i innych metali szlachetnych w przemyśle jubilerskim i metalowym. Możliwe są analizy zarówno składu jak i grubości powłok galwanicznych (także powłok wielowarstwowych), a także do pomiaru składu kąpieli galwanicznych. Analizator XRF THICK800A oferuje pomiar do 24 pierwiastków lub do 5 warstw powłok. Dostarczany jest razem z oprogramowaniem XRF, zawierającym elementy metody parametrów fundamentalnych (FP).

Analizator XRF THICK 800A został wyposażony w górne źródło światła oraz kolimator o małym przekroju do precyzyjnej lokalizacji punktu pomiarowego. Automatyczna ruchoma platforma 2D, podwójny lokalizator laserowy oraz kamera o wysokiej rozdzielczości, gwarantują precyzyjną lokalizację punktu pomiarowego.

Spektrometr XRF EDX3200S PLUS

Spektrometr XRF EDX3200S PLUS to zaawansowany laboratoryjny analizator siarki (XRF) specjalnie zaprojektowany do badania ciekłych produktów petrochemicznych, takich jak: benzyna, olej napędowy, ropa naftowa, nafta, oleje smarujące, oleje opałowe i inne. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) charakteryzuje się krótkim czasem analizy, niskimi limitami detekcji oraz brakiem konieczności specjalnego przygotowania próbki. Siarka w paliwach jest składnikiem bardzo niepożądanym, a jej dokładny monitoring na różnych etapach produkcji paliwa może znacząco przyczynić się do polepszenia jakości produktu końcowego.

Spektrometr EDX3200S Plus wyposażony jest w detektor SDD o ulepszonej rozdzielczości. Limit detekcji dla siarki wynosi 10 ppm w atmosferze powietrza i można go obniżyć aż do 3 ppm przy wykorzystaniu atmosfery helu. Analizator siarki XRF EDX3200S PLUS jest polecany producentom paliw płynnych, rafineriom oraz jednostkom kontrolującym jakość paliw. Spektrometr XRF zapewnia pomiary zgodne z ASTM D4294. Dodatkowo można wykonać kalibracje na pomiary chloru w paliwach i innych produktach petrochemicznych.

Spektrometr XRF EDX3200S

Spektrometr XRF EDX3200S to prosty analizator laboratoryjny wykorzystujący metodę XRF do szybkiej i nieniszczącej analizy produktów petrochemicznych pod kątem obecności siarki i innych niepożądanych pierwiastków. Pomiary są proste, dokładne i nie wymagają czynności związanych z przygotowaniem próby. W chwili obecnej staje się ważne określenie zawartości siarki w produktach petrochemicznych, szczególnie w benzynie, oleju napędowym czy smarach. Nadmierna ilość siarki w paliwach reaguje z rozpuszczonym w nich powietrzem i obniża ich stabilność. Ponadto w procesach spalania przekształca się w SO2, które powoduje zanieczyszczenie atmosfery. Z tego względu ważne jest kontrolowanie i ograniczanie jej zawartości. Metoda fluorescencji rentgenowskiej (XRF) świetnie się do tego celu nadaje.

Spektrometr EDX 3200S wyposażony jest w górne źródło promieniowania, które oszczędza zużycie membrany ochronnej, zwiększa dokładność pomiaru i zapobiega zabrudzeniu oraz uszkodzeniu lampy XRF i okienka berylowego detektora. Pokrywa analizatora zapewnia odpowiednią ochronę użytkownika przed promieniowaniem.

Spektrometr XRF X-CITE

Spektrometr XRF X-Cite to uniwersalny spektrometr wykorzystujący technologię XRF do analizy próbek bez ich niszczenia. Zaawansowane zdolności obliczeniowe oprogramowania XRF zintegrowane są z analizatorem dla zapewnienia spójnej analizy i transferu danych.
Spektrometr XRF X-Cite może być stosowany w laboratoriach stacjonarnych oraz terenowych w opcji wzmocnionej obudowy - X-Cite ROBUST.
Podstawowe zastosowania XRF: pomiary S w olejach i paliwach, Pb w benzynie, Ni i V w ropie naftowej, S, Ni i V w oleju szczątkowym, S w koksie lub węglu, Mg, P, S, Ca, Ba, Zn, Mo w olejach smarowniczych. W laboratoriach kryminalistycznych identyfikacja śladów znalezionych na szkle, stali, pozostałości po wystrzałach, szczątków lakieru samochodowego i składników do produkcji narkotyków. Pomiary w przemyśle cementowym: Na, Mg, Al, Si, S, K, Ca, i Fe w cemencie i klinkierze zgodnie z ASTM C-114.
Spektrometr XRF X-CITE to również doskonałe narzędzie do identyfikacji składników aktywnych w kosmetykach i farmaceutykach:  Cr, Mn, Fe w w cieniach do oczu; Fe, Ti i Zn podkładach; Bi, Al, Ca, Mg w środkach zobojętniających, przeczyszczających,  łagodzących dolegliwości żołądkowe;  Analizy produktów higieny osobistej (dezodoranty, preparaty do higieny włosów, zębów), preparatów antybakteryjnych; Ag, I i Zn w szkłach kontaktowych; Ti i Zn w preparatach z filtrami UVA/UVB.
X-CITE przeznaczony jest także do pomiarów w przemyśle wydobywczym:  Zn metaliczny, proszek Zn , produkcja ZnO;  Fe metaliczne, proszek Fe, produkcja Fe2O3;  wydobycie boksytów –Al; Analizy glinki kaolinowej – ceramika;  rudy cyny, rudy srebra.

 

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź: www.learnxrf.comwww.learnxrf.com

Spektrometr XRF RoHS Vision

Spektrometr XRF RoHS VISION firmy Xenemetrix został zaprojektowany specjalnie, aby umożliwić szybką i łatwą analizę zawartości substancji niebezpiecznych zgodnie z regulacjami prawnymi dotyczącymi ochrony środowiska RoHS (dyrektywa o ograniczeniu zużycia substancji niebezpiecznych) i WEEE. Używając spektrometru RoHS VISION można z powodzeniem prowadzić analizy XRF zgodne ze wszystkimi wymogami dyrektywy RoHS, procedur weryfikacji MCV, wykorzystując procedury testowe ujęte w biuletynie IEC TC111. Analizator łączy w sobie sprawdzoną technologię Xenemetrix i nową intuicyjną technologię Selective Matrix Acquisition Reflexive Technology (SMART) umożliwiająca analizy wielu złożonych materiałów bez znajomości ich składu.
Spektrometr XRF RoHS Vision umożliwia zapis obrazu analizowanego obszaru dzięki kamerze CCD ze znacznikami wymiarów dla analiz próbek w skali Mikro i Makro. Urządzenie jest kompaktowe, o dużym potencjale analitycznym, jednocześnie proste w obsłudze dla osób nie posiadających szerokiej wiedzy analitycznej.

Dodatkowo spektrometr w wersji X-RoHS+SDD oprócz aplikacji przeznaczonej do analiz RoHS pozwala na pełną analizę jakościową i ilościową w zakresie od F-Fm. Spetrometr w tej wersji jest wyposażony w detektor SDD ze zoptymalizowanym okienkiem do pomiaru pierwiastków lekkich od fluoru. Detektor charakteryzuje się wyjątkowo dobrą rozdzielczością 125 eV, dzięki czemu można go wykorzystywać również do takich aplikacji jak: analiza paliw pod kątem siarki, analiza polimerów, metalurgia, analizy substancji mineralnych, kryminalistyka.

 

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź:www.learnxrf.comwww.learnxrf.com

Spektrometr XRF EDX Pocket IV Genius

Ręczny spektrometr XRF EDX-Pocket IV Genius o niewielkiej wadze i rozmiarach oraz doskonałych parametrach pomiarowych sprawdzi się zarówno w analizach terenowych jak i w pracy w laboratorium stacjonarnym. Spektrometry XRF Genius w zależności od modułu aplikacyjnego mogą być używane jako analizatory składu stopów, gleby, metali szlachetnych, minerałów oraz analizatory substancji niebezpiecznych. Analizatory XRF mogą być również doskonałym narzędziem w takich dziedzinach jak określanie klasy rud, analizy metali na złomowiskach i w procesach recyklingu, badania archeologiczne itp.

Spektrometr XRF Genius wyposażony jest w najnowszy detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, nowe ulepszone oprogramowanie analityczne wykorzystujące algorytmy krzywych wzorcowych i FP. Opcjonalny system helowy służący do wykonywania dokładniejszych analiz XRF pierwiastków lekkich oraz poprawienia dokładności w analizach halogenków.
Linia produktów XRF Genius obejmuje 4 moduły analityczne: analizator RoHS Genius 3000XRF, analizator stopów Genius 5000XRF, analizator minerałów Genius 7000XRF oraz analizator metali ciężkich w glebach Genius 9000XRF. Każdy z nich posiada funkcje optymalnie dostosowujące go do warunków pracy, szybkiej identyfikacji badanego materiału i analizy zakresu pierwiastków właściwego dla danej aplikacji. Moduły pomiarowe można dowolnie łączyć. Dostępne są także modułu innych niestandardowych analiz XRF.

 

Mobilny spektrometr XRF S-MOBILE

Kompaktowy mobilny spektrometr XRF S-MOBILE firmy XENEMETRIX umożliwia pomiary w terenie, gdy konieczne jest wykonanie szybkiej i dokładnej analizy XRF. Lampa X-ray o wysokiej mocy 50kV, 50W zapewnia analizy XRF na poziomie  laboratoryjnym. Spektrometr Xenemetrix S-Mobile to analizator XRF o możliwościach urządzenia laboratoryjnego w wersji mobilnej. Prosty w obsłudze, a jednocześnie dokładny i w pełni profesjonalny XRF - sprawdza się świetnie tam, gdzie ważna jest znajomość składu badanego materiału. Jest odpowiedni do badań geologicznych, badań w remediacji gruntu, dla jednostek szybkiego reagowania, do analiz in-situ w procesach technologicznych. Spektrometr posiada potężne oprogramowanie analityczne z rozbudowanymi funkcjami analizy bezwzorcowej (SLFP).

Spektrometr XRF S-MOBILE dostępny jest w wersji S-MOBILE ULS (Ultra Low Sulfur) - idealny do zastosowań petrochemicznych i analiz siarki na poziomach rzędu pojedynczych ppm, z limitem detekcji 1.3 ppm. Analizy XRF w atmosferze powietrza. Analizy zgodne z normami ASTM D4294/10, D7212, ISO 20847, IP 531 i innymi określającymi metodykę analiz produktów naftowych bez konieczności stosowania płuczki helowej.

Spektrometr XRF Petro-Marine do analiz paliw na statkach na zawartość S, Al, Si, Ca, Zn, P, do analiz smarów na zawartość Fe, Cr, Ni, Cu, Zn, Pb. Dzięki specjalnemu solidnemu wykonaniu sprawdzi się na każdym okręcie.

 

Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź: www.learnxrf.comwww.learnxrf.com

Ręczny spektrometr XRF Explorer

Ręczny spektrometr XRF Explorer to najnowszej generacji przenośny spektrometr XRF (fluorescencji rentgenowskiej) o znakomitych parametrach pomiarowych, który sprawdzi się zarówno w laboratorium jak i w analizach terenowych. W zależności od naszej kalibracji, ten ręczny XRF może być używany jako: Analizator składu stopów - XRF EXPLORER 5000 do pomiaru i identyfikacji stopów metali, sortowania metali, recyklingu,  itp. oraz analizator gleby, skał, kruszyw - XRF EXPLORER 7000, który sprawdzi się m. in. w badaniach archeologicznych, określaniu klasy rudy, analizach substancji mineralnych i metali ciężkich w glebie. Dostępne są także wersje specjalne ręcznego spektrometru XRF z bogatym zestawem kalibracji dla wymagających użytkowników (RoHS, jubilerstwo, katalizatory, zabawki, grubość powłok galwanicznych i wiele innych aplikacji XRF).

Spektrometr XRF Explorer wyposażony jest w najnowszy detektor SDD o zwiększonej rozdzielczości spektralnej, kamerę HD, nowe ulepszone oprogramowanie analityczne XRF, wykorzystujące algorytmy krzywych wzorcowych i FP (analizy bez wzorcowej). Niewątpliwą zaletą Explorera jest możliwość badania pierwiastków lekkich bez użycia atmosfery helu lub próżni. Dodatkowo urządzenie wyposażone jest w baterię o pojemności 9000 mAh pozwalającą na 12 godzin ciągłej pracy oraz możliwość jej wymiany bez wyłączania urządzenia. 

  • Click to enlarge image Explorer.jpg
  • Click to enlarge image Explorer_ekran.jpg
  • Click to enlarge image Explorer_walizka.png
  • Click to enlarge image explorer-opcje2.png
  •  

Linia spektrometrów przenośnych XRF Explorer obejmuje liczne moduły analityczne. Analizator stopów Explorer 5000, analizator minerałów Explorer 7000 i Explorer do ogólnych analiz XRF w każdej aplikacji jakiej potrzebuje użytkownik. Każdy model spektrometru posiada funkcje optymalnie dostosowujące go do warunków pracy, szybkiej identyfikacji badanego materiału i analizy stężeń pierwiastków w zakresie danej aplikacji. Spektrometr XRF Explorer jest też dostępny z wieloma modułami kalibracji specjalnych.

 

 

Przenośny spektrometr P-Metrix

Spektrometr EDXRF P-Metrix to najnowsze osiągnięcie w dziedzinie projektowania spektrometrów XRF firmy  Xenemetrix. Łączy w sobie moc analityczną urządzenia stacjonarnego z zaletami spektrometru mobilnego. Dzięki automatycznej pokrywie, detekcji obecności próbki, kamerze podglądowej i intuicyjnej obsłudze spektrometr spełnia najwyższe standardy bezpieczeństwa.

P-Metrix to mobilne laboratorium pozwalające na precyzyjną analizę ilościową i jakościową w warunkach terenowych. Solidna, składana konstrukcja, półautomatyczna pokrywa komory testowej i mnogość zabezpieczeń elektronicznych gwarantują bezpieczny transport i pomiary.  Zasilanie zapewnia wbudowana bateria Li-ion, możliwe jest zasilanie zewnętrzne z ładowarki samochodowej, lub dodatkowych baterii. Opcjonalny, ergonomiczny transporter pozwala na jeszcze wygodniejszą pracę. Szeroki zakres obsługiwanych technologii umożliwia połączenie się ze stacjonarnym laboratorium.

Opcjonalny transporter

Spektrometr P-metrix znajduje zastosowanie w analizie laboratoryjnej może być wykorzystywany w przemyśle petrochemicznym i paliwowym  do identyfikacji pierwiastków i określania poziomów ich stężeń w badanych próbkach stałych, cieczach lub proszkach. Może być również używany do kontroli jakości w procesach przetwórstwa metali. Nieniszcząca analiza metali może być przeprowadzona na każdym etapie produkcji od rudy lub złomu poprzez stop do gotowego wyrobu. Spektrometria EDXRF jest powszechnie stosowaną techniką analityczną wykorzystywaną  w sektorze badania wchłaniania składników odżywczych lub potencjalnie toksycznych pierwiastków przez rośliny odgrywającym kluczową rolę w sektorze rolno-spożywczym.