Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrometr XRF Cube100
Analizatory złotaCUBE 100 to najnowszy przenośny spektrometr XRF do zastosowań w jubilerstwie. Wyróżnia go nowoczesny design, lekka konstrukcja (4,5 kg) oraz wygodny do przenoszenia uchwyt. Sterowanie spektrometrem odbywa się za pomocą…
Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec
Jednostanowiskowe mieszadła magnetyczne z grzaniemMieszadło z grzaniem i elektroniczną regulacją prędkości obrotowej w zakresie od 100 do 1400 obr./min. Cyfrowy wyświetlacz temperatury i prędkości obrotowej. Model przeznaczony do bardziej wymagających zastosowań. Cyfrowy wyświetlacz umożliwia…
Mieszadła mechaniczne AM-S
Mieszadła mechaniczneWysokiej klasy mieszadła mechaniczne AM-S do zastosowań laboratoryjnych to zaawansowane, wysokoobrotowe mieszadła mechaniczne o stabilnej, kompaktowej konstrukcji, wyposażone w mikro-silnik z możliwością kontroli prędkości obrotów. Laboratoryjne mieszadła mechaniczne AM-S są…
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Spektrokolorymetr CR8
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w graficzny wyświetlacz. Wykorzystuje pełnopasmowe źródło światła LED. Standardowa apertura 4mm oraz opcjonalnie dostępna 8mm. Tester koloru umożliwia odczyt takich danych jak reflektancja (na…
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


