Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Spektrometr XRF EDX1800B
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…
Duże młyny kulowe RJM102 i RJM103
Młyny kuloweDuże młyny kulowe RJM102 i RJM103 do zastosowań laboratoryjnych wyposażone są odpowiednio w dwie rolki (RJM102) i trzy rolki (RJM103). Młyny kulowe posiadają funkcję cyfrowej nastawy czasu i prędkości obrotów.…
Ręczny spektrometr XRF Explorer
XRF przenośneRęczny spektrometr XRF Explorer to najnowszej generacji przenośny spektrometr XRF (fluorescencji rentgenowskiej) o znakomitych parametrach pomiarowych, który sprawdzi się zarówno w laboratorium jak i w analizach terenowych. W zależności od…
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Spektrokolorymetr CR9
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w kolorowy wyświetlacz dotykowy.Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i SCE. Kolorymetr wyposażony jest w wiele źródeł światła, dwie wymienne apertury pomiarowe…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


