Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF

Mały młyn kulowy RJM30D

Młyny kulowe

Mały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…

Prasa ręczna 30 ton

Akcesoria XRF - Przygotowanie próbki

Model EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna o podwyższonym zakresie nacisku do 30 ton (dla tabletek 40mm). Łączy w sobie wytrzymałość i solidność z prostą i bezpieczną obsługą. System hydrauliczny zwielokrotnia…

Młyny planetarno-kulowe XQM

Młyny kulowe

Planetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…

Kolorymetr przenosny NH310

Kolorymetry, mierniki barwy

Przenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…

Łaźnia piaskowa do 400°C

Łaźnie piaskowe

Laboratoryjna łaźnia piaskowa model SB400E umożliwia równomierne ogrzewanie naczynia laboratoryjnego w zakresie temperatur od 5oC powyżej temperatury otoczenia aż do 400oC. Materiał płyty grzewczej wykonany ze stali nierdzewnej zapewnia jednorodny…

Spektrometr XRF EDX1800B

XRF laboratoryjne - biurkowe

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…

Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony

Pompy perystaltyczne

Zupełna Nowość – Seria pomp perystaltycznych o podwyższonym stopniu ochrony przed pyłem i cieczą (IP66). Obudowę wykonano ze stopu aluminium o nowoczesnej i ergonomicznej konstrukcji. Podgląd parametrów pracy w czasie…

Spektrometr XRF EDX 2000A

Analizatory grubości powłok

Spektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…