Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrometr XRF EDX1800B
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…
Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec
Jednostanowiskowe mieszadła magnetyczne z grzaniemMieszadło z grzaniem i elektroniczną regulacją prędkości obrotowej w zakresie od 100 do 1400 obr./min. Cyfrowy wyświetlacz temperatury i prędkości obrotowej. Model przeznaczony do bardziej wymagających zastosowań. Cyfrowy wyświetlacz umożliwia…
Analizator łączony - Lactoscan COMBO
Analizatory mlekaAnalizator LACTOSCAN COMBO to połączenie dwóch osobnych urządzeń – licznika komórek somatycznych SCC oraz ultradźwiękowego analizatora mleka w jednej obudowie. Elektroniczny licznik komórek somatycznych umożliwia szybką i dokładną analizę mleka…
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Młyny kulowe QM
Młyny kuloweLaboratoryjne młyny kulowe QM to jednostanowiskowe stacje mielące przeznaczone do bardzo dokładnego mielenia i mieszania próbek w warunkach laboratoryjnych. Pozwalają na jednoczesne umieszczenie jednego naczynia wykonanego z dowolnego dostępnego materiału. …
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


