Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Kompaktowy inkubator z wytrząsaniem IS-RSDAA
Inkubatory z wytrząsaniemInkubator z funkcją wytrząsania IS-RSDAA świetnie wkomponuje się w wolną przestrzeń na blacie laboratoryjnym dzięki swej kompaktowej i zwartej budowie. Po zadaniu wymaganej temperatury i prędkości obrotowej będziemy mieli możliwość obserwować…
Spektrometr XRF EDX3600H
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX3600H to laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF przeznaczony do analiz pierwiastkowych XRF w pełnym zakresie pierwiastkowym. Zaletą tego laboratoryjnego analizatora XRF jest detektor SDD o…
Młyny kulowe QM
Młyny kuloweLaboratoryjne młyny kulowe QM to jednostanowiskowe stacje mielące przeznaczone do bardzo dokładnego mielenia i mieszania próbek w warunkach laboratoryjnych. Pozwalają na jednoczesne umieszczenie jednego naczynia wykonanego z dowolnego dostępnego materiału. …
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Duże młyny kulowe RJM102 i RJM103
Młyny kuloweDuże młyny kulowe RJM102 i RJM103 do zastosowań laboratoryjnych wyposażone są odpowiednio w dwie rolki (RJM102) i trzy rolki (RJM103). Młyny kulowe posiadają funkcję cyfrowej nastawy czasu i prędkości obrotów.…
Spektrometr XRF Genius-IF
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


