Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrometr XRF Model EDX 6000C
XRF laboratoryjne - biurkoweEDX 6000C to zaawansowany laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii oferujący pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu.Poszerzony zakres pierwiastkowy (od F do U) oraz obniżone limity detekcji zostały…
Spektrometr XRF Cube100
Analizatory złotaCUBE 100 to najnowszy przenośny spektrometr XRF do zastosowań w jubilerstwie. Wyróżnia go nowoczesny design, lekka konstrukcja (4,5 kg) oraz wygodny do przenoszenia uchwyt. Sterowanie spektrometrem odbywa się za pomocą…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Duże młyny kulowe RJM102 i RJM103
Młyny kuloweDuże młyny kulowe RJM102 i RJM103 do zastosowań laboratoryjnych wyposażone są odpowiednio w dwie rolki (RJM102) i trzy rolki (RJM103). Młyny kulowe posiadają funkcję cyfrowej nastawy czasu i prędkości obrotów.…
Spektrokolorymetr CR9
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w kolorowy wyświetlacz dotykowy.Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i SCE. Kolorymetr wyposażony jest w wiele źródeł światła, dwie wymienne apertury pomiarowe…
Spektrometr XRF EDX3600H
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX3600H to laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF przeznaczony do analiz pierwiastkowych XRF w pełnym zakresie pierwiastkowym. Zaletą tego laboratoryjnego analizatora XRF jest detektor SDD o…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


