Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony
Pompy perystaltyczneZupełna Nowość – Seria pomp perystaltycznych o podwyższonym stopniu ochrony przed pyłem i cieczą (IP66). Obudowę wykonano ze stopu aluminium o nowoczesnej i ergonomicznej konstrukcji. Podgląd parametrów pracy w czasie…
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Prasa ręczna 30 ton
Akcesoria XRF - Przygotowanie próbkiModel EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna o podwyższonym zakresie nacisku do 30 ton (dla tabletek 40mm). Łączy w sobie wytrzymałość i solidność z prostą i bezpieczną obsługą. System hydrauliczny zwielokrotnia…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Spektrokolorymetr CR8
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w graficzny wyświetlacz. Wykorzystuje pełnopasmowe źródło światła LED. Standardowa apertura 4mm oraz opcjonalnie dostępna 8mm. Tester koloru umożliwia odczyt takich danych jak reflektancja (na…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


