Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Prasa ręczna 30 ton
Akcesoria XRF - Przygotowanie próbkiModel EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna o podwyższonym zakresie nacisku do 30 ton (dla tabletek 40mm). Łączy w sobie wytrzymałość i solidność z prostą i bezpieczną obsługą. System hydrauliczny zwielokrotnia…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Spektrometr XRF EDX1800B
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…
Spektrokolorymetr CR8
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w graficzny wyświetlacz. Wykorzystuje pełnopasmowe źródło światła LED. Standardowa apertura 4mm oraz opcjonalnie dostępna 8mm. Tester koloru umożliwia odczyt takich danych jak reflektancja (na…
Spektrofotometr YS3060
SpektrofotometrySpektrofotometr YS3060 to nowo wprowadzony, najbardziej zaawansowany model o geometrii pomiarowej d/8, przeznaczony do pomiaru różnicy barwy między wzorcem a próbką badaną. Umożliwia pomiar trwałości barwników, trwałości kolorów, wytrzymałości barwy, przejrzystości,…
Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony
Pompy perystaltyczneZupełna Nowość – Seria pomp perystaltycznych o podwyższonym stopniu ochrony przed pyłem i cieczą (IP66). Obudowę wykonano ze stopu aluminium o nowoczesnej i ergonomicznej konstrukcji. Podgląd parametrów pracy w czasie…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


