Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrometr XRF Genius-IF
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w…
Mobilny spektrometr XRF Cube 100S
Analizatory siarkiCUBE 100S to nowy przenośny analizator oleju oraz innych produktów petrochemicznych, specjalnie zaprojektowany do wykrywania siarki i oleju w niskich zawartościach. Spektrometr można wykorzystywać do analiz surowców petrochemicznych, kontroli jakości…
Duże młyny kulowe RJM102 i RJM103
Młyny kuloweDuże młyny kulowe RJM102 i RJM103 do zastosowań laboratoryjnych wyposażone są odpowiednio w dwie rolki (RJM102) i trzy rolki (RJM103). Młyny kulowe posiadają funkcję cyfrowej nastawy czasu i prędkości obrotów.…
Młyny kulowe QM
Młyny kuloweLaboratoryjne młyny kulowe QM to jednostanowiskowe stacje mielące przeznaczone do bardzo dokładnego mielenia i mieszania próbek w warunkach laboratoryjnych. Pozwalają na jednoczesne umieszczenie jednego naczynia wykonanego z dowolnego dostępnego materiału. …
Kompaktowy inkubator z wytrząsaniem IS-RSDAA
Inkubatory z wytrząsaniemInkubator z funkcją wytrząsania IS-RSDAA świetnie wkomponuje się w wolną przestrzeń na blacie laboratoryjnym dzięki swej kompaktowej i zwartej budowie. Po zadaniu wymaganej temperatury i prędkości obrotowej będziemy mieli możliwość obserwować…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony
Pompy perystaltyczneZupełna Nowość – Seria pomp perystaltycznych o podwyższonym stopniu ochrony przed pyłem i cieczą (IP66). Obudowę wykonano ze stopu aluminium o nowoczesnej i ergonomicznej konstrukcji. Podgląd parametrów pracy w czasie…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


