Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF

Spektrofotometr YS3060

Spektrofotometry

Spektrofotometr YS3060 to nowo wprowadzony, najbardziej zaawansowany model o geometrii pomiarowej d/8, przeznaczony do pomiaru różnicy barwy między wzorcem a próbką badaną. Umożliwia pomiar trwałości barwników, trwałości kolorów, wytrzymałości barwy, przejrzystości,…

Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec

Jednostanowiskowe mieszadła magnetyczne z grzaniem

Mieszadło z grzaniem i elektroniczną regulacją prędkości obrotowej w zakresie od 100 do 1400 obr./min. Cyfrowy wyświetlacz temperatury i prędkości obrotowej. Model przeznaczony do bardziej wymagających zastosowań. Cyfrowy wyświetlacz umożliwia…

Spektrometr XRF EDX3600H

XRF laboratoryjne - biurkowe

Spektrometr XRF EDX3600H to laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF przeznaczony do analiz pierwiastkowych XRF w pełnym zakresie pierwiastkowym. Zaletą tego laboratoryjnego analizatora XRF jest detektor SDD o…

Spektrometr XRF EDX1800B

XRF laboratoryjne - biurkowe

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…

Prasa ręczna 30 ton

Akcesoria XRF - Przygotowanie próbki

Model EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna o podwyższonym zakresie nacisku do 30 ton (dla tabletek 40mm). Łączy w sobie wytrzymałość i solidność z prostą i bezpieczną obsługą. System hydrauliczny zwielokrotnia…

Spektrofotometr sferyczny NS810

Spektrofotometry

Spektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…

Spektrometr XRF EDX 2000A

Analizatory grubości powłok

Spektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…

Spektrometr XRF Genius-IF

XRF laboratoryjne - biurkowe

Spektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w…