Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Mobilny spektrometr XRF Cube 100S
Analizatory siarkiCUBE 100S to nowy przenośny analizator oleju oraz innych produktów petrochemicznych, specjalnie zaprojektowany do wykrywania siarki i oleju w niskich zawartościach. Spektrometr można wykorzystywać do analiz surowców petrochemicznych, kontroli jakości…
Spektrometr XRF Genius-IF
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w…
Młyny kulowe QM
Młyny kuloweLaboratoryjne młyny kulowe QM to jednostanowiskowe stacje mielące przeznaczone do bardzo dokładnego mielenia i mieszania próbek w warunkach laboratoryjnych. Pozwalają na jednoczesne umieszczenie jednego naczynia wykonanego z dowolnego dostępnego materiału. …
Prasa ręczna 30 ton
Akcesoria XRF - Przygotowanie próbkiModel EQP-30 to ręczna prasa hydrauliczna o podwyższonym zakresie nacisku do 30 ton (dla tabletek 40mm). Łączy w sobie wytrzymałość i solidność z prostą i bezpieczną obsługą. System hydrauliczny zwielokrotnia…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


