Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Młyny kulowe QM
Młyny kuloweLaboratoryjne młyny kulowe QM to jednostanowiskowe stacje mielące przeznaczone do bardzo dokładnego mielenia i mieszania próbek w warunkach laboratoryjnych. Pozwalają na jednoczesne umieszczenie jednego naczynia wykonanego z dowolnego dostępnego materiału. …
Spektrometr XRF EDX1800B
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…
Ręczny spektrometr XRF Explorer
XRF przenośneRęczny spektrometr XRF Explorer to najnowszej generacji przenośny spektrometr XRF (fluorescencji rentgenowskiej) o znakomitych parametrach pomiarowych, który sprawdzi się zarówno w laboratorium jak i w analizach terenowych. W zależności od…
Mobilny spektrometr XRF Cube 100S
Analizatory siarkiCUBE 100S to nowy przenośny analizator oleju oraz innych produktów petrochemicznych, specjalnie zaprojektowany do wykrywania siarki i oleju w niskich zawartościach. Spektrometr można wykorzystywać do analiz surowców petrochemicznych, kontroli jakości…
Spektrometr XRF Cube100
Analizatory złotaCUBE 100 to najnowszy przenośny spektrometr XRF do zastosowań w jubilerstwie. Wyróżnia go nowoczesny design, lekka konstrukcja (4,5 kg) oraz wygodny do przenoszenia uchwyt. Sterowanie spektrometrem odbywa się za pomocą…
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


