Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrokolorymetr CR8
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w graficzny wyświetlacz. Wykorzystuje pełnopasmowe źródło światła LED. Standardowa apertura 4mm oraz opcjonalnie dostępna 8mm. Tester koloru umożliwia odczyt takich danych jak reflektancja (na…
Ręczny spektrometr XRF Explorer
XRF przenośneRęczny spektrometr XRF Explorer to najnowszej generacji przenośny spektrometr XRF (fluorescencji rentgenowskiej) o znakomitych parametrach pomiarowych, który sprawdzi się zarówno w laboratorium jak i w analizach terenowych. W zależności od…
Spektrometr XRF Model EDX 6000C
XRF laboratoryjne - biurkoweEDX 6000C to zaawansowany laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii oferujący pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu.Poszerzony zakres pierwiastkowy (od F do U) oraz obniżone limity detekcji zostały…
Spektrometr XRF Genius-IF
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w…
Spektrofotometr YS3060
SpektrofotometrySpektrofotometr YS3060 to nowo wprowadzony, najbardziej zaawansowany model o geometrii pomiarowej d/8, przeznaczony do pomiaru różnicy barwy między wzorcem a próbką badaną. Umożliwia pomiar trwałości barwników, trwałości kolorów, wytrzymałości barwy, przejrzystości,…
Duże młyny kulowe RJM102 i RJM103
Młyny kuloweDuże młyny kulowe RJM102 i RJM103 do zastosowań laboratoryjnych wyposażone są odpowiednio w dwie rolki (RJM102) i trzy rolki (RJM103). Młyny kulowe posiadają funkcję cyfrowej nastawy czasu i prędkości obrotów.…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


