Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Mały młyn kulowy RJM30D
Młyny kuloweMały młyn kulowy RJM30D wyposażony w trzy rolki (młyn trzyrolkowy) przeznaczony jest do rozdrabniania twardych materiałów do konsystencji proszku. Laboratoryjnym młynem RJM30D można rozdrabniać materiał o wielkości ziaren ok 7…
Spektrometr XRF EDX1800B
XRF laboratoryjne - biurkoweSpektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…
Spektrokolorymetr CR9
SpektrokolorymetryPrzenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w kolorowy wyświetlacz dotykowy.Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i SCE. Kolorymetr wyposażony jest w wiele źródeł światła, dwie wymienne apertury pomiarowe…
Spektrometr XRF Model EDX 6000C
XRF laboratoryjne - biurkoweEDX 6000C to zaawansowany laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii oferujący pomiary w atmosferze powietrza, próżni lub helu.Poszerzony zakres pierwiastkowy (od F do U) oraz obniżone limity detekcji zostały…
Spektrometr XRF Cube100
Analizatory złotaCUBE 100 to najnowszy przenośny spektrometr XRF do zastosowań w jubilerstwie. Wyróżnia go nowoczesny design, lekka konstrukcja (4,5 kg) oraz wygodny do przenoszenia uchwyt. Sterowanie spektrometrem odbywa się za pomocą…
Kolorymetr przenosny NH310
Kolorymetry, mierniki barwyPrzenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…


