Spektrometr XRF EDX3000
-
wielkość czcionki
Zmniejsz czcionkę
Powiększ czcionkę
- Wydrukuj
Spektrometr XRF EDX3000 w nowej obudowie z ulepszonym detektorem.
Spektrometr EDX 3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badaniach grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich.
Dodatkowe informacje
| Model: | EDX3000 | Zastosowania modelu XRF: | Jubilerstwo, RoHS, Badanie powłok | Zakres pomiarowy: | 1 ppm - 99,99% | Detektor: | Si-PIN | Rozdzielczość detektora: | 139 ± 5eV | Mierzone pierwiastki: | Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Sn, W | Dokładność pomiaru: | 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%) ; 0,1% | Atmosfera pomiaru: | Powietrze | Czas analizay (s): | 60-200 | Moc lampy: | 50W | Zasilanie: | 230V AC | Formy próbek: | ciała stałe, proszki, ciecze | Waga: | 39kg | Wymiary komory pomiarowej: | 260x306x146mm | Wymiary całkowite: | 484 x 461 x 394mm | Dodatkowe informacje: | Konfiguracja standardowa zawiera: jednostkę główną z detektorem Si-PIN ze wzmacniaczem, wbudowaną kamerę CCD, oprogramowanie analityczne oraz zestaw komputerowy do sterowania i akwizycji danych. |
|---|
- PL_X-EDX-3000_v01_24.pdf (71 Pobrań)
