Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF
Spektrofotometr sferyczny NS810
SpektrofotometrySpektrofotometr sferyczny NS810 przeznaczony do pomiaru różnicy barw między wzorcem, a próbką, posiadający zaawansowane funkcje pomiarowe i uniwersalne zastosowanie. Spektrofotometr NS810 to najnowszy model producenta, w którym zastosowano geometrię pomiarową…
Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec
Jednostanowiskowe mieszadła magnetyczne z grzaniemMieszadło z grzaniem i elektroniczną regulacją prędkości obrotowej w zakresie od 100 do 1400 obr./min. Cyfrowy wyświetlacz temperatury i prędkości obrotowej. Model przeznaczony do bardziej wymagających zastosowań. Cyfrowy wyświetlacz umożliwia…
Spektrometr XRF EDX3200S
Analizatory siarkiSpektrometr EDX 3200S to najnowszy analizator XRF siarki w glebach, olejach i produktach petrochemicznych firmy SkyRay. Został zaprojektowany zgodnie z obowiązującym normami międzynarodowymi dotyczącymi analizami siarki w petrochemii m. in.…
Ręczny spektrometr XRF Explorer
XRF przenośneRęczny spektrometr XRF Explorer to najnowszej generacji przenośny spektrometr XRF (fluorescencji rentgenowskiej) o znakomitych parametrach pomiarowych, który sprawdzi się zarówno w laboratorium jak i w analizach terenowych. W zależności od…
Łaźnia piaskowa do 400°C
Łaźnie piaskoweLaboratoryjna łaźnia piaskowa model SB400E umożliwia równomierne ogrzewanie naczynia laboratoryjnego w zakresie temperatur od 5oC powyżej temperatury otoczenia aż do 400oC. Materiał płyty grzewczej wykonany ze stali nierdzewnej zapewnia jednorodny…
Młyny planetarno-kulowe XQM
Młyny kulowePlanetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…
Spektrofotometr YS3060
SpektrofotometrySpektrofotometr YS3060 to nowo wprowadzony, najbardziej zaawansowany model o geometrii pomiarowej d/8, przeznaczony do pomiaru różnicy barwy między wzorcem a próbką badaną. Umożliwia pomiar trwałości barwników, trwałości kolorów, wytrzymałości barwy, przejrzystości,…
Spektrometr XRF EDX 2000A
Analizatory grubości powłokSpektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów…
Mikroskop GEM300 - przenośny i łatwy w obsłudze mikroskop gemmologiczny. Model GEM300, jak cała seria GEM, łączy w sobie ekonomikę i precyzję wykonania. Wykorzystywany w jubilerstwie do obserwowania kamieni szlachetnych i wychwytywania ich wad lub atrybutów. Posiada dwa systemy powiększenia i wyboru. GEM300 charakteryzuje się dystansem roboczym w granicach 70 ~ 90 mm. Mikroskop ten wyposażony jest w możliwość obserwacji w polu ciemnym, bardzo przydatną funkcję w badaniach jubilerskich takich kamieni jak diamenty czy jadeit. GEM300 ma możliwość zamontowania obiektywów powiększających: 1x, 2x, 3x, 4x, dwa obiektywy są w standardowym zestawie z mikroskopem.


