Aparatura analityczna, pomiarowa i wyposażenie laboratorium, XRF

Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec

Mieszadło magnetyczne z grzaniem MR Hei-Tec

Jednostanowiskowe mieszadła magnetyczne z grzaniem

Mieszadło z grzaniem i elektroniczną regulacją prędkości obrotowej w zakresie od 100 do 1400 obr./min. Cyfrowy wyświetlacz temperatury i prędkości obrotowej. Model przeznaczony do bardziej wymagających zastosowań. Cyfrowy wyświetlacz umożliwia…

Mieszadła mechaniczne AM-S

Mieszadła mechaniczne AM-S

Mieszadła mechaniczne

Wysokiej klasy mieszadła mechaniczne AM-S do zastosowań laboratoryjnych to zaawansowane, wysokoobrotowe mieszadła mechaniczne o stabilnej, kompaktowej konstrukcji, wyposażone w mikro-silnik z możliwością kontroli prędkości obrotów. Laboratoryjne mieszadła mechaniczne AM-S są…

Młyny planetarno-kulowe XQM

Młyny planetarno-kulowe XQM

Młyny kulowe

Planetarne młyny kulowe XQM są przeznaczone do mielenia, rozdrabniania, mieszania małych objętości próbek w celu uzyskania próbki końcowej o wysokim stopniu rozdrobnienia, wyposażone są w cztery stanowiska obróbki próbki. Planetarne…

Spektrometr XRF EDX1800B

Spektrometr XRF EDX1800B

XRF laboratoryjne - biurkowe

Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do…

Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony

Pompa perystaltyczna HPM300 o podwyższonym stopniu ochrony

Pompy perystaltyczne

Zupełna Nowość – Seria pomp perystaltycznych o podwyższonym stopniu ochrony przed pyłem i cieczą (IP66). Obudowę wykonano ze stopu aluminium o nowoczesnej i ergonomicznej konstrukcji. Podgląd parametrów pracy w czasie…

Kolorymetr przenosny NH310

Kolorymetr przenosny NH310

Kolorymetry, mierniki barwy

Przenośny kolorymetr NH310 jest zaawansowanym urządzeniem przeznaczonym m.in. do określania różnic barwy między wzorcem, a próbką badaną, stopnia zażółcenia oraz bieli. Wykonuje pomiary barwy zarówno w trybie SCI jak i…

Spektrokolorymetr CR8

Spektrokolorymetr CR8

Spektrokolorymetry

Przenośny kolorymetr o konstrukcji pionowej wyposażony w graficzny wyświetlacz. Wykorzystuje pełnopasmowe źródło światła LED. Standardowa apertura 4mm oraz opcjonalnie dostępna 8mm. Tester koloru umożliwia odczyt takich danych jak reflektancja (na…

Kompaktowy inkubator z wytrząsaniem IS-RSDAA

Kompaktowy inkubator z wytrząsaniem IS-RSDAA

Inkubatory z wytrząsaniem

Inkubator z funkcją wytrząsania IS-RSDAA świetnie wkomponuje się w wolną przestrzeń na blacie laboratoryjnym dzięki swej kompaktowej i zwartej budowie. Po zadaniu wymaganej temperatury i prędkości obrotowej będziemy mieli możliwość obserwować…

Subskrybuj to źródło RSS

Mikroskop metalograficzny XJM600

Mikroskop metalograficzny XJM600

Zaawansowane mikroskopy metalograficzne serii XJM600 wykorzystujące światło odbite i przepuszczane to kompleksowo wyposażone modele dolnostolikowe z licznymi aplikacjami takimi jak np. metoda jasnego i ciemnego pola, DIC (kontrast interferencyjny), obserwacje w polaryzacji, itp. Mikroskopy serii XJM600 są produkowane z myślą o przemysle półprzewodników, wytwarzania płytek półprzewodnikowych, elektronicznej branży informatycznej, metalurgii itd. Seria XJM600 jest przeznaczona do badań wykorzystywanych przy FPD (systemy litograficzne płaskie), hermetyzacji obwodu, podłożach obwodu, odlewaniu materiału, metalu i części ceramicznych, formach precyzyjnych, itp.
Ergonomiczna konstrukcja sprawia, że praca z mikroskopem serii XJM600 jest dla użytkownika wygodna. Do przechwytywania obrazu może być wykorzystywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, które stanowią dodatkowe wyposażenie mikroskopu, dostępne jest także przyjazne użytkownikowi oprogramowanie pozwalające na analizę otrzymanego obrazu. W serii XJM600 posiadamy dwa modele: XJM600B i XJM600T, w wersji dwuokularowej i trinokularowej. Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową, a także filtry zapewniają wysoką rozdzielczość i dobrą jakość oglądanych obrazów.

Dział: Mikroskopy metalograficzne
Czytaj dalej...