Spektrometr XRF model EDX 2000A z górnym źródeł promieniowania i ruchomym stolikiem został specjalnie zaprojektowany pod kątem pomiarów grubości oraz składu powłok galwanicznych.
Podwójny system pozycjonowania próbki oraz szeroki wybór kolimatorów pozwala na precyzyjne pomiary nawet próbek o niewielkich rozmiarach lub skomplikowanych kształtach jak powierzchnie wklęsło-wypukłe, narożne i łukowe.
Zastosowanie spektrometru: powłoki galwaniczne – pojedyncze, podwójne i złożone, próbki o niewielkich i nieregularnych kształtach. Zakres pierwiastkowy: od glinu do uranu dla analiz składu powłok galwanicznych.
Nasza ofertaAnalizatory żywności i pasz analizatory mleka, analizatory pasz, analizatory NIRGeneratory gazów N2 H2 PowietrzeHomogenizatory laboratoryjne mechaniczne, ultradźwiękoweInkubatory, cieplarkiKolorymetry, mierniki barwy, spektrofotometry Lepkościomierze rotacyjne Łaźnie laboratoryjne łaźnie wodne, łaźnie piaskowe, łaźnie olejowe, łaźnie chłodzące, łaźnie histologiczne, łaźnie kulkoweMieszadła magnetyczne i podgrzewacze mieszadła wielostanowiskowe, ławy grzewczeMieszadła mechaniczneMikroskopy biologiczne, cyfrowe, metalograficzne, gemmologiczneMłynki planetarne, kulowe, tnące, moździerzowePolarymetry kołowe, półautomatyczne, automatycznePompy perystaltyczne dozujące, przepływowe, systemy napełniania, przemysłoweSpektrometry XRFSpektrometry UV-VIS jednowiązkowe, dwuwiązkoweWytrząsarki orbitalne, inkubacyjne
