mikroskop xjm400

Mikroskopy metalurgiczne odwrócone serii XJM400 pozwalają na uzyskiwanie płaskich, ostrych, wyraźnych obrazów jednocześnie osiągając dłuższe odległości robocze. Mikroskopy wykorzystują metodę jasnego pola, mają kompaktową i trwałą budowę, a ich obsługa jest nieskomplikowana. Seria XJM400 są idealne do komponentów metalograficznych i elektronicznych, jak również w badaniach materiałów i działach kontroli jakości. Do mikroskopów można zamontować matrycę CCD lub aparat cyfrowy w celu przechwytywania obrazu, zaś profesjonalne i przyjazne dla użytkownika oprogramowanie do analizy metalurgicznych jest dostępne jako dodatkowa opcja.