Spektrometr XRF EDX600
-
wielkość czcionki
Zmniejsz czcionkę
Powiększ czcionkę
- Wydrukuj
Spektrometr XRF EDX600 to efekt wieloletniego doświadczenia firmy SkyRay Instruments w projektowaniu urządzeń do analiz stopów i produktów z metali szlachetnych. Spektrometr posiada ergonomiczny wygląd, przyjazny użytkownikowi interfejs i profesjonalne oprogramowanie sprawiające, że analizy pierwiastkowe XRF w przemyśle jubilerskim stają się proste, szybkie i dokładne.
Spektrometr XRF EDX600 posiada wydajny i praktyczny licznik proporcjonalny zapewniający dokładne pomiary składu stopów jubilerskich przy zachowaniu niskich kosztów zakupu i eksploatacji. Spektrometr EDX600 polecany jest szczególnie do analiz typowych stopów złota (Au) i srebra (Ag). Spektrometr XRF sprawdzi się też przy pomiarach grubości jednowarstwowych powłok metalicznych. Spektrometr wykonany jest z trwałych materiałów, posiada potrójny system zabezpieczeń przed promieniowaniem jonizującym.
Dodatkowe informacje
| Model: | EDX600 XRF | Zastosowania modelu XRF: | Jubilerstwo | Zakres pomiarowy: | od 0.005-0.01 µm do 50 µm (w zależności od rodzaju powłoki) | Detektor: | Licznik proporcjonalny | Mierzone pierwiastki: | Standardowo Au, Ag, Pt, Pd, Cu w typowych stopach jubilerskich | Dokładność pomiaru: | 5-10% wartości pomiarowej dla powłok galwanicznych | Atmosfera pomiaru: | Powietrze | Czas analizay (s): | 60-100 | Moc lampy: | 5-50 kV | Zasilanie: | 220 VAC +/- 5V (zalecane źródło stabilizowane) | Formy próbek: | ciała stałe, proszki, ciecze, powłoki galwaniczne | Waga: | 30 kg | Wymiary komory pomiarowej: | 260 x 306 x 105 mm | Wymiary całkowite: | 150 x 140 x 160 cm |
|---|
