Spektrometr XRF EDX3000 przeznaczony jest do precyzyjnych analiz metali szlachetnych w próbach jubilerskich, badania grubości powłok, badaniach zgodności z RoHS. Dzięki zastosowaniu chłodzonego elektrycznie detektora Si-PIN o ulepszonej rozdzielczości umożliwia rozdział bardziej skomplikowanych stopów jubilerskich jak np. białe złoto lub pomiar domieszek innych metali w stopie złota. Wbudowana w spektrometr kamera pozwala na precyzyjny pomiar wybranego punktu, co ma znaczenie w pomiarach biżuterii o niewielkich lub nieregularnych kształtach jak pierścionki, łańcuszki itp. Spektrometr XRF posiada proste w obsłudze oprogramowanie analityczne oraz możliwość dodawania własnych wzorców i tworzenia nowych krzywych kalibracyjnych. Analizy za pomocą spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej XRF są w pełni nieniszczące, umożliwiają szybkie i dokładne pomiary zarówno surowców jak i wyrobów jubilerskich.
