Zaawansowane mikroskopy metalograficzne serii XJM600 wykorzystujące światło odbite i przepuszczane to kompleksowo wyposażone modele dolnostolikowe z licznymi aplikacjami takimi jak np. metoda jasnego i ciemnego pola, DIC (kontrast interferencyjny), obserwacje w polaryzacji, itp. Mikroskopy serii XJM600 są produkowane z myślą o przemysle półprzewodników, wytwarzania płytek półprzewodnikowych, elektronicznej branży informatycznej, metalurgii itd. Seria XJM600 jest przeznaczona do badań wykorzystywanych przy FPD (systemy litograficzne płaskie), hermetyzacji obwodu, podłożach obwodu, odlewaniu materiału, metalu i części ceramicznych, formach precyzyjnych, itp.
Ergonomiczna konstrukcja sprawia, że praca z mikroskopem serii XJM600 jest dla użytkownika wygodna. Do przechwytywania obrazu może być wykorzystywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, które stanowią dodatkowe wyposażenie mikroskopu, dostępne jest także przyjazne użytkownikowi oprogramowanie pozwalające na analizę otrzymanego obrazu. W serii XJM600 posiadamy dwa modele: XJM600B i XJM600T, w wersji dwuokularowej i trinokularowej. Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową, a także filtry zapewniają wysoką rozdzielczość i dobrą jakość oglądanych obrazów.
Aparatura pomiarowa , badawcza i laboratoryjna. Spektrometry xrf, chromatografy, GC-MS, UV-VIS, FTIR. Pompy, mieszadła, młyny.
Kolorymetry, połyskomierze, spektrofotometry. Mierniki barwy i połysku. Komory do wizualnej oceny barwy.
Spektrometry XRF, EDXF, WDXRF. XRF do stopów metali, geologii i badania zanieczyszczeń. XRF RoHS.
