Mikroskop metalograficzny XJM600

Zaawansowane mikroskopy metalograficzne serii XJM600 wykorzystujące światło odbite i przepuszczane to kompleksowo wyposażone modele dolnostolikowe z licznymi aplikacjami takimi jak np. metoda jasnego i ciemnego pola, DIC (kontrast interferencyjny), obserwacje w polaryzacji, itp. Mikroskopy serii XJM600 są produkowane z myślą o przemysle półprzewodników, wytwarzania płytek półprzewodnikowych, elektronicznej branży informatycznej, metalurgii itd. Seria XJM600 jest przeznaczona do badań wykorzystywanych przy FPD (systemy litograficzne płaskie), hermetyzacji obwodu, podłożach obwodu, odlewaniu materiału, metalu i części ceramicznych, formach precyzyjnych, itp.
Ergonomiczna konstrukcja sprawia, że praca z mikroskopem serii XJM600 jest dla użytkownika wygodna. Do przechwytywania obrazu może być wykorzystywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, które stanowią dodatkowe wyposażenie mikroskopu, dostępne jest także przyjazne użytkownikowi oprogramowanie pozwalające na analizę otrzymanego obrazu. W serii XJM600 posiadamy dwa modele: XJM600B i XJM600T, w wersji dwuokularowej i trinokularowej. Kondensor Abbego NA=1,25 z diafragmą irysową, a także filtry zapewniają wysoką rozdzielczość i dobrą jakość oglądanych obrazów.

Mikroskopy metalograficzne odwrócone serii XJM200 wykorzystują metodę zarówno jasnego jak i ciemnego pola, charakteryzują się doskonałym układem optycznym, posiadają opcję polaryzacji, mają możliwość wykonywania zdjęć w ciemnym polu. Kompaktowy i stabilny korpus mikroskopów tej serii świetnie wpływa na dobrą odporność na wstrząsy.

Ergonomiczna konstrukcja pozwala użytkownikowi na łatwiejszą obsługę. Mikroskop metalograficzny odwrócony XJM200 wyposażony jest w prosty polaryzator i analizator, co czyni go odpowiednim zarówno dla naukowców i szkół. Jako dodatkowa opcja istnieje możliwość skompletowania oprogramowania dedykowanego analizie obrazu w serii mikroskopów XJM200.

Mikroskop metalurgiczny serii XJM100 wykorzystuje światło odbite i przechodzące, co pozwala na obserwację zarówno próbek przezroczystych jak i nieprzezroczystych.
Mikroskopy serii XJM100 zapewniają doskonałą jasność i kontrast optyczny, pożądane przez najbardziej wymagających naukowców pracujących z mikroskopami, przy jednoczesnym zachowaniu świetnego stosunku kosztów mikroskopów serii XJM100 do jakości uzyskiwanych obrazów. Do przechwytywania obrazów może być wykorzytywana matryca CCD lub aparat cyfrowy, jako opcja dodatkowa dostępne jest profesjonalne i przyjazne w użytkowaniu oprogramowanie.
W tej serii klient ma do wyboru model bi- i trinokularowy, w których kondensor Abbego jest standartowym wyposażeniem.