Spektrometr XRF EDX1800B
Spektrometr XRF EDX1800B to analizator fluorescencji rentgenowskiej XRF zaprojektowany z myślą o analizach zgodności z dyrektywną RoHS/WEEE. Pomiary XRF są szybkie i w pełni nieniszczące. Analizator XRF nadaje się zarówno do pomiarów półproduktów jak i wyrobów gotowych. EDX1800B znajduje zastosowanie w kontroli jakości wyrobów elektrycznych i elektronicznych, w przemyśle zabawkarskim i ceramicznym. Oprogramowanie XRF posiada wygodną funkcje PASS/FAIL przy wykonywaniu pomiarów na obecność pierwiastków niebezpiecznych jak rtęć, kadm, ołów, chrom. Dodatkowo spektrometr XRF można dostosować do analiz chemicznego składu stopów, wtedy znajdzie zastosowanie również przy recyklingu i sortowaniu metali oraz w przemyśle metalurgicznym. Spektrometr dostarczany z prostym oraz intuicyjnym oprogramowaniem w języku polskim.
Spektrometr dostępny również z rozszerzeniem do pomiaru chloru oraz w wersji z detektorem SDD
Dodatkowe informacje
| Model: | EDX 1800B, Spektrometr EDXRF do analiz RoHS | Zastosowania modelu XRF: | Badanie stopów, RoHS | Zakres pomiarowy: | 2 ppm - 99,99%, 1 ppm limitu detekcji dla Cd, Hg, Pb, Cr, Br | Detektor: | Si-PIN, SDD | Rozdzielczość detektora: | ok. 165 eV | Mierzone pierwiastki: | od S (siarki) do U (uranu). Kalibracje fabryczne dla Hg, Cd, Pb, Cr, Br. Dostępne rozszerzenie na pomiar Cl (chloru). | Dokładność pomiaru: | 0.1%; 0.05% przy zawartości głównego pierwiastka powyżej 96% | Atmosfera pomiaru: | Powietrze | Czas analizay (s): | od 60 do 300 sekund | Moc lampy: | 50 W | Zasilanie: | 230V AC | Formy próbek: | ciała stałe, proszki, ciecze | Wymiary komory pomiarowej: | 605 x 395 x 100 mm | Dodatkowe informacje: | Konfiguracja standardowa obejmuje jednostkę główną z detektorem Si-PIN, celownikiem, laserowym, kamerą CCD oraz komputerem wraz z zainstalowanym oprogramowaniem analitycznym |
|---|
- Ulotka spektrometr EDX 1800B (876 Pobrań)


