Spektrometr XRF EDX3600H

Spektrometr XRF EDX3600H to laboratoryjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii EDXRF przeznaczony do analiz pierwiastkowych XRF w pełnym zakresie pierwiastkowym. Zaletą tego laboratoryjnego analizatora XRF jest detektor SDD o rozdzielczości 135-145eV chłodzony termoelektrycznie oraz możliwość pracy z w atmosferze próżni (do analiz XRF pierwiastków lekkich). Analizator XRF posiada dużą, otwieraną od góry komorę pomiarową. Istnieje możliwość wykonywania pomiarów XRF przy otwartej komorze, umieszczając próbki o dużych lub niestandardowych rozmiarach. Spektrometr XRF EDX3600H jest szczególnie polecany do analiz próbek mineralnych oraz stopów metali. Technika rozdziału widma XRF (wieloetapowy pomiar XRF z różnymi parametrami) zwiększa dokładność równoczesnej analizy ciężkich i lekkich pierwiastków. Zapewniamy profesjonalne szkolenie oraz oprogramowanie XRF w języku polskim.

Dodatkowe informacje

Model: EDX3600H, profesjonalny spektrometr EDXRF do pełnych analiz pierwiastkowych
Zastosowania modelu XRF: Nauka i badania, Jubilerstwo, Przemysł, Badanie stopów, Badanie katalizatorów, Geologia, RoHS, Badanie powłok
Zakres pomiarowy: 1 ppm – 99,99%
Detektor: SDD
Rozdzielczość detektora: 135-145eV
Mierzone pierwiastki: od Na (sodu) do U (uranu), optymalizacja pomiarów do pierwiastków lekkich
Dokładność pomiaru: 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%)
Atmosfera pomiaru: Powietrze, Próżnia (opcjonalnie)
Czas analizay (s): 60-200 sekund
Moc lampy: 50W
Zasilanie: 220V AC
Formy próbek: ciała stałe, proszki, ciecze
Waga: 65 kg
Wymiary komory pomiarowej: 320x100mm
Wymiary całkowite: 660x510x350mm
Dodatkowe informacje: Konfiguracja standardowa zawiera: jednostkę główną z detektorem SDD, wzmacniacz sygnału do zakłóceń (SNE), system optymalizacji ścieżki świetlnej, wbudowana kamera CCD, zestaw filtrów i kolimatorów z automatyczną zmieniarką, oprogramowanie analityczne FP, zasilanie nisko- i wysokonapięciowe, zestaw komputerowy do zarządzania urządzeniem.