Spektrometr XRF Genius-IF pierwszy biurkowy spektrometr EDXRF z wtórnymi filtrami odbiciowymi, to połączenie wysokiej jakości pomiarów XRF i ekonomii w analizie pierwiastkowej. Spektrometr XRF zapewnia nieniszczącą analizę ilościową i jakościową w zakresie od C(6) do Fm(100). Najnowszej generacji detektor SDD posiada doskonałą rozdzielczość widmową i zoptymalizowany jest do wykrywania pierwiastków w szerokim zakresie (od ilości śladowych do 100%). XRF Genius-IF firmy Xenemetrix sprawdza się także znakomicie w kłopotliwych dotychczas typach analiz XRF np. pierwiastków lekkich.
Spektrometr XRF Genius IF posiada unikatowy układ optyczny łączący osiem wtórnych filtrów odbiciowych, oraz osiem filtrów w trybie wzbudzenia bezpośredniego. Zapewnia to optymalne warunki wzbudzenia dla wszystkich pierwiastków wykrywanych metodą EDXRF. WAG (Wide Angle Geometry) to opatentowany przez Xenemetrix system wykorzystania filtrów odbiciowych zapewniający optymalne warunki analizy XRF dla pierwiastków głównych oraz śladowych w próbie.
Wiązka rentgenowska wzbudza charakterystyczne linie K dla filtrów odbiciowych (czysty metal), które wykorzystywane są potem do wzbudzenia próbki wiązką "monochromatyczną". Zastosowanie filtrów umożliwia znaczące obniżenie limitów detekcji dla poszczególnych pierwiastków. Niskie limity detekcji pierwiastków czynią Genius-IF najbardziej wszechstronnym i przydatnym w szerokim zakresie aplikacji spektrometrem XRF.
Chcesz dowiedzieć się więcej na temat metody XRF? Odwiedź: www.learnxrf.com
